高精度低功耗多位量化∑-△调制器的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 ∑-△ ADC的介绍 | 第7-11页 |
| ·应用背景及研究现状 | 第7-9页 |
| ·研究内容与目标 | 第9-10页 |
| ·工作内容安排 | 第10-11页 |
| 第二章 ∑-△调制基本理论 | 第11-17页 |
| ·过采样技术 | 第11-12页 |
| ·量化噪声整形技术 | 第12-13页 |
| ·多位量化技术 | 第13页 |
| ·∑-△的基本模块 | 第13-17页 |
| ·量化器 | 第13-15页 |
| ·积分器 | 第15-17页 |
| 第三章 系统参数设计 | 第17-43页 |
| ·参数设计 | 第17-30页 |
| ·噪声分配 | 第17-19页 |
| ·过采样率选择 | 第19页 |
| ·阶数选择 | 第19-21页 |
| ·量化位数选择 | 第21-24页 |
| ·实现函数 | 第24-30页 |
| ·拓扑实现 | 第30-34页 |
| ·非线性补偿 | 第34-42页 |
| ·非线性分析 | 第34-36页 |
| ·动态误差匹配技术(DEM) | 第36-38页 |
| ·数据加权平均技术(DWA) | 第38-40页 |
| ·非线性噪声整形技术 | 第40-42页 |
| ·设计总结 | 第42-43页 |
| 第四章 非理想性验证 | 第43-71页 |
| ·积分器非线性分析 | 第43-60页 |
| ·运放有限增益 | 第44-46页 |
| ·增益非线性 | 第46-48页 |
| ·信号建立分析 | 第48-54页 |
| ·开关非理想性 | 第54-56页 |
| ·热噪声分析 | 第56-58页 |
| ·闪烁噪声分析 | 第58-59页 |
| ·其他因素 | 第59-60页 |
| ·仿真验证 | 第60-71页 |
| ·验证有限增益的影响 | 第61-62页 |
| ·验证增益非线性的影响 | 第62-64页 |
| ·验证有限增益带宽积的影响 | 第64-65页 |
| ·验证转换受限的影响 | 第65-66页 |
| ·验证相位裕度的影响 | 第66-68页 |
| ·验证闪烁噪声的影响 | 第68-69页 |
| ·验证DAC非线性的影响 | 第69-71页 |
| 第五章 电路设计 | 第71-82页 |
| ·时序调试和检验 | 第71-74页 |
| ·各级子模块实现 | 第74-76页 |
| ·运放的设计 | 第76-78页 |
| ·系统的仿真 | 第78-82页 |
| 结论与展望 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
