| 致谢 | 第1-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 目录 | 第10-12页 |
| 1 绪论 | 第12-32页 |
| ·电阻抗断层成像技术(EIT) | 第12-24页 |
| ·EIT简介 | 第12页 |
| ·EIT的研究现状 | 第12-22页 |
| ·EIT的发展前景 | 第22-24页 |
| ·基于磁共振成像系统的电阻抗成像技术 | 第24-28页 |
| ·MREIT | 第24-28页 |
| ·IC.MREIT | 第28页 |
| ·头部电阻抗成像的研究意义 | 第28-29页 |
| ·本论文主要研究工作及创新点 | 第29-32页 |
| 2 感应电流磁共振电阻抗成像技术(IC-MREIT) | 第32-46页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·IC-MREIT的正问题 | 第32-42页 |
| ·正问题的数学描述 | 第32-34页 |
| ·正问题的求解方法 | 第34-37页 |
| ·ANSYS求解IC-MREIT正问题的有效性验证 | 第37-42页 |
| ·IC-MREIT的逆问题 | 第42页 |
| ·IC-MREIT二次磁场信号的提取 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 3 基于灵敏度矩阵法的IC-MREIT | 第46-60页 |
| ·引言 | 第46-47页 |
| ·基于灵敏度矩阵法的IC-MREIT | 第47-50页 |
| ·基于灵敏度矩阵法的IC-MREIT正问题 | 第47-48页 |
| ·基于灵敏度矩阵法的IC-MREIT逆问题 | 第48-50页 |
| ·仿真研究 | 第50-57页 |
| ·模型及参数设定 | 第50-51页 |
| ·正问题仿真研究 | 第51-53页 |
| ·逆问题仿真研究 | 第53-57页 |
| ·本章小结 | 第57-60页 |
| 4 基于J-substitution算法的IC-MREIT | 第60-78页 |
| ·引言 | 第60-62页 |
| ·IC-MREIT J-substitution算法 | 第62-66页 |
| ·IC-MREIT J-substitution算法正问题 | 第62-63页 |
| ·IC-MREIT J-substitution算法逆问题 | 第63-66页 |
| ·IC-MREIT J-substitution算法仿真研究 | 第66-75页 |
| ·两层同心球及具有尖锐棱角的柱体模型仿真研究 | 第66-70页 |
| ·各向同性三层球及真实头模型上的仿真研究 | 第70-75页 |
| ·本章小结 | 第75-78页 |
| 5 各向异性电导率重构的IC-MREIT算法研究 | 第78-92页 |
| ·引言 | 第78-79页 |
| ·各向异性电导率重构的IC-MREIT算法 | 第79-83页 |
| ·各向异性电导率重构的IC-MREIT算法正问题 | 第79-80页 |
| ·头模型参数设定 | 第80-82页 |
| ·各向异性电导率重构的IC-MREIT算法逆问题 | 第82-83页 |
| ·仿真研究 | 第83-90页 |
| ·三层球头模型上的仿真研究 | 第84-87页 |
| ·真实头模型上的仿真研究 | 第87-90页 |
| ·本章小结 | 第90-92页 |
| 6 结论与展望 | 第92-96页 |
| ·结论 | 第92-94页 |
| ·展望 | 第94-96页 |
| 参考文献 | 第96-106页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第106页 |
