| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-25页 |
| ·分子电子学 | 第10-12页 |
| ·分子导线 | 第12-14页 |
| ·分子结 | 第14-22页 |
| 参考文献 | 第22-25页 |
| 第二章 实验技术与测试仪器 | 第25-41页 |
| ·扫描探针显微镜 | 第25-32页 |
| ·X射线光电子能谱 | 第32-34页 |
| ·反射红外吸收光谱 | 第34-35页 |
| ·拉曼光谱 | 第35-37页 |
| ·电化学测试 | 第37-40页 |
| 参考文献 | 第40-41页 |
| 第三章 分子电学性质表征系统的构建 | 第41-57页 |
| ·STM断裂结的构筑 | 第41-49页 |
| ·STM Break Junction原理简介 | 第41-43页 |
| ·STM Break Junction组件 | 第43-44页 |
| ·Au(111)基底和STM针尖 | 第44-46页 |
| ·自组装单分子膜的制备 | 第46页 |
| ·STM液池 | 第46页 |
| ·实验操作 | 第46-49页 |
| ·磁力控制的十字交叉隧道结 | 第49-55页 |
| ·磁力控制的十字交叉隧道结工作原理 | 第49页 |
| ·测试平台中关键系统分析 | 第49-50页 |
| ·仪器的搭建 | 第50-53页 |
| ·样品的制备 | 第53-54页 |
| ·实验操作 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 第四章 "核-壳"结构分子导线的合成与分子电导性质研究 | 第57-87页 |
| ·引言 | 第57-60页 |
| ·"核-壳"结构分子导线的合成 | 第60-65页 |
| ·"核-壳"结构分子导线自组装单分子膜的光谱、能谱表征 | 第65-70页 |
| ·X射线电子能谱 | 第65-67页 |
| ·反射红外吸收光谱 | 第67-69页 |
| ·表面增强拉曼光谱 | 第69-70页 |
| ·结果与讨论 | 第70页 |
| ·"核-壳"结构分子导线自组装单分子膜的电话学表征 | 第70-73页 |
| ·循环伏安法 | 第70-72页 |
| ·交流阻抗谱 | 第72-73页 |
| ·结果与讨论 | 第73页 |
| ·"核-壳"结构分子导线电学性质表征 | 第73-84页 |
| ·十字交叉隧道结 | 第73-76页 |
| ·扫描隧道谱 | 第76-79页 |
| ·STM断裂结 | 第79-82页 |
| ·结果与讨论 | 第82-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
| 第五章 共轭结构可控的分子导线的合成与分子电导性质研究 | 第87-104页 |
| ·引言 | 第87-88页 |
| ·共轭结构可控的分子导线的设计与合成 | 第88-90页 |
| ·STM Break Junction | 第90-99页 |
| ·针尖提拉速度对STM Break Junction的影响 | 第91-93页 |
| ·温度对STM Break Junction的影响 | 第93-95页 |
| ·分子导线的电导测量 | 第95-96页 |
| ·STM Break Junction的Ⅰ-Ⅴ测量 | 第96-99页 |
| ·分子电导的理论研究 | 第99-102页 |
| ·本章小结 | 第102-103页 |
| 参考文献 | 第103-104页 |
| 第六章 结论与展望 | 第104-106页 |
| 附录 关键中间体与目标产物的合成 | 第106-119页 |
| 在学期间的研究成果 | 第119-120页 |
| 致谢 | 第120页 |
