| 摘要 | 第1-12页 |
| ABSTRACT | 第12-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-25页 |
| ·本论文研究背景和现实意义 | 第14-15页 |
| ·论文研究背景 | 第14-15页 |
| ·论文研究的目的和现实意义 | 第15页 |
| ·传统的折射率测量方法简介和评述 | 第15-18页 |
| ·全反射法(临界角法) | 第15-16页 |
| ·最小偏向角法 | 第16-17页 |
| ·V型棱镜法 | 第17-18页 |
| ·折射率测量新技术 | 第18-21页 |
| ·Talbot效应和莫尔条纹法 | 第18-19页 |
| ·基于衍射光栅干涉的测量方法 | 第19-20页 |
| ·Michelson干涉法 | 第20-21页 |
| ·折射率测量技术的国内外现状及研究热点 | 第21-22页 |
| ·干涉条纹分析计数技术 | 第22-24页 |
| ·本论文的研究目标和研究内容 | 第24-25页 |
| 第二章 迈克尔逊等倾干涉法折射率测量原理 | 第25-34页 |
| 引言 | 第25页 |
| ·迈克尔逊干涉仪介绍 | 第25-29页 |
| ·仪器结构、光路 | 第26页 |
| ·工作原理 | 第26-29页 |
| ·迈克尔逊干涉仪的应用 | 第29页 |
| ·迈克尔逊干涉法折射率测量原理 | 第29-31页 |
| ·插入法 | 第29-30页 |
| ·旋转法 | 第30-31页 |
| ·改进的非零入射角开始的测量方法 | 第31-33页 |
| ·传统方法存在的问题 | 第31-32页 |
| ·改进的折射率计算方法 | 第32-33页 |
| 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 相位分析法干涉条纹计数 | 第34-49页 |
| 引言 | 第34页 |
| ·基于图像处理的测量技术 | 第34-35页 |
| ·相位分析方法 | 第35-38页 |
| ·傅里叶变化法 | 第35-36页 |
| ·相移法 | 第36-37页 |
| ·相位分析法条纹计数原理 | 第37-38页 |
| ·数据采集 | 第38-40页 |
| ·干涉图像灰度数据采集 | 第38页 |
| ·图像相关分析数据采集 | 第38-40页 |
| ·数据的滤波处理 | 第40-43页 |
| ·时域/空域滤波 | 第40-43页 |
| ·频域滤波 | 第43页 |
| ·相位解调 | 第43-46页 |
| ·余弦变换相位解调 | 第43-45页 |
| ·卷积滤波法相位解调 | 第45-46页 |
| ·相位去包裹 | 第46-48页 |
| 本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 迈克尔逊等倾干涉折射率测量系统 | 第49-56页 |
| 引言 | 第49页 |
| ·硬件系统 | 第49-52页 |
| ·改装的迈克尔逊干涉仪 | 第50页 |
| ·转动系统 | 第50-51页 |
| ·成像采集装置 | 第51-52页 |
| ·软件系统 | 第52-54页 |
| ·影响系统的因素分析 | 第54-55页 |
| 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 CSBN晶体的双折射和色散 | 第56-68页 |
| 引言 | 第56页 |
| ·晶体双折射 | 第56-57页 |
| ·晶体双折射与晶体结构的关系 | 第57-60页 |
| ·光的电磁理论对双折射现象的解释 | 第57-59页 |
| ·惠更斯对双折射现象的解释 | 第59-60页 |
| ·晶体的折射率测量 | 第60-62页 |
| ·单轴晶体的折射率测量 | 第60页 |
| ·双轴晶体的折射率测量 | 第60-62页 |
| ·理论误差分析 | 第62-64页 |
| ·Ca~(2+)掺杂的铌酸锶钡晶体(CSBN)的折射率 | 第64-66页 |
| ·CSBN晶体的材料制备及结构数据 | 第64-65页 |
| ·CSBN晶体的折射率 | 第65-66页 |
| ·晶体折射率色散的Sellmeier方程和色散曲线 | 第66-67页 |
| 本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 结论 | 第68-70页 |
| ·本文的主要工作 | 第68页 |
| ·本文的创新点 | 第68-69页 |
| ·有待进一步研究的问题 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第75页 |