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微束微区X射线探针分析仪的基本参数法定量分析研究

摘要第1-6页
Abstract第6-11页
第1章 引言第11-17页
   ·选题来源及意义第11页
     ·课题来源第11页
     ·研究意义第11页
   ·国内外研究现状第11-16页
   ·主要研究内容第16-17页
第2章 X 射线荧光定量分析的理论基础第17-24页
   ·一次荧光强度的计算第17-20页
     ·单色X 射线激发时一次荧光强度计算第17-19页
     ·多色X 射线激发时一次荧光强度计算第19-20页
   ·二次荧光强度计算第20-21页
     ·单色X 射线激发时二次荧光强度计算第20-21页
     ·多色X 射线激发时二次荧光强度计算第21页
   ·X 射线荧光相对强度理论计算第21-22页
   ·几个重要参数第22-24页
     ·激发因子—E第22页
     ·X 光管原级谱的强度分布第22-23页
     ·谱仪的几何因子第23-24页
第3章 X 射线荧光分析中重要基本参数第24-35页
   ·X 射线吸收特性第24-28页
     ·X 射线的吸收第24-26页
     ·质量吸收系数第26-28页
   ·荧光产额第28-29页
   ·谱线分数第29-30页
   ·吸收限跃迁因子第30-32页
     ·吸收限突变第30-32页
     ·吸收限跃迁因子第32页
   ·特征X 射线能量第32-33页
   ·轨道电子结合能和临界激发能第33页
   ·X 射线能量与其波长的关系第33-34页
   ·等效原子序数第34-35页
第4章 X 射线荧光基本参数法定量分析第35-42页
   ·基体效应第35-37页
   ·原级射线强度分布第37-39页
   ·谱峰重叠问题的解决第39-40页
   ·基本参数法的计算方法第40-42页
第5章 基本参数法程序的设计第42-49页
   ·程序框图和流程图介绍第42-43页
     ·程序框图及其内容介绍第42页
     ·程序执行流程图第42-43页
   ·程序中重要计算模块源代码和内容介绍第43-49页
第6章 定量分析实验及应用效果第49-65页
   ·仪器和实验条件第49-52页
     ·微区分析仪第49页
     ·X 光管第49-50页
     ·Si-PIN 探测器第50-51页
     ·样品制备技术第51-52页
     ·标样的配制第52页
   ·定量分析实验及讨论第52-55页
     ·合金样准确度实验第52-53页
     ·地质样准确度实验第53-55页
   ·应用效果第55-63页
   ·精确度实验第63-65页
结论第65-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-71页
攻读学位期间取得学术成果第71页

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