| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题背景 | 第10-14页 |
| ·液晶显示的发展 | 第10-11页 |
| ·液晶(LCD)显示器的结构 | 第11-12页 |
| ·液晶(LCD)显示器的元件介绍 | 第12-13页 |
| ·维修方法在模组中的应用 | 第13-14页 |
| ·本课题研究的意义 | 第14-15页 |
| ·亮点类缺陷现有的维修方式及其缺点 | 第14-15页 |
| ·线类缺陷现有的维修方式及其缺点 | 第15页 |
| ·本课题的研究内容 | 第15-16页 |
| 第二章 液晶显示器的显示原理以及制造流程 | 第16-34页 |
| ·TFT-LCD 的显示原理 | 第16-19页 |
| ·光阀的概念 | 第16页 |
| ·薄膜晶体管的介绍（Thin Film Transistor，TFT） | 第16-17页 |
| ·TFT LCD 架构以及工作方式 | 第17-19页 |
| ·液晶显示器制程设计 | 第19-22页 |
| ·TFT LCD 制程简介 | 第19页 |
| ·TFT 制作流程 | 第19-21页 |
| ·TFT Layout 设计准则 | 第21-22页 |
| ·液晶显示器 CF 制程设计 | 第22-26页 |
| ·CF（彩色滤光片）作用简介 | 第22页 |
| ·CF（彩色滤光片）的结构 | 第22-24页 |
| ·CF（彩色滤光片）的制程分类 | 第24-26页 |
| ·液晶显示器面板制程设计 | 第26-27页 |
| ·液晶显示器模块组装制程设计 | 第27-34页 |
| ·模块组装 JI 制程流程设计 | 第28-30页 |
| ·模块组装模组制程流程设计 | 第30-34页 |
| 第三章 面板缺陷的检测方式 | 第34-44页 |
| ·模组段检测站点的作用 | 第34页 |
| ·模块制程中检测站点介绍 | 第34-41页 |
| ·电路板检测 | 第34-35页 |
| ·模组画面检测 | 第35-39页 |
| ·模组外观检测 | 第39-41页 |
| ·面板常见缺陷的介绍 | 第41-44页 |
| ·面板外观缺陷 | 第41页 |
| ·面板功能缺陷 | 第41-42页 |
| ·面板降级缺陷 | 第42-43页 |
| ·背光模组缺陷 | 第43-44页 |
| 第四章 面板点缺陷的维修方法 | 第44-58页 |
| ·点缺陷产生的原理 | 第44-45页 |
| ·漏电至扫描线（gate line） | 第44页 |
| ·漏电至共电极 | 第44-45页 |
| ·漏电至数据线（data line） | 第45页 |
| ·漏电至相邻的像素电极 | 第45页 |
| ·激光以及激光修补的介绍 | 第45-46页 |
| ·激光修补的目的 | 第45页 |
| ·激光修补的方式 | 第45-46页 |
| ·面板点缺陷的维修方法 | 第46-58页 |
| ·前言 | 第46-47页 |
| ·面板亮点缺陷的传统维修方法 | 第47-51页 |
| ·面板亮点缺陷维修方法的改善 | 第51-52页 |
| ·面板亮点缺陷维修方法改善前后的成功率比较 | 第52-53页 |
| ·面板异物晕开点缺陷的维修 | 第53-57页 |
| ·面板异物晕开点缺陷的维修成功率 | 第57-58页 |
| 第五章 面板线缺陷的维修方法 | 第58-66页 |
| ·面板线缺陷产生的原理 | 第58-59页 |
| ·面板线缺陷的维修方法 | 第59-66页 |
| ·面板垂直线缺陷传统维修方法 | 第59页 |
| ·面板垂直线缺陷维修方法的改善 | 第59-61页 |
| ·面板垂直线缺陷维修方法改善前后的成功率比较 | 第61页 |
| ·面板水平线缺陷传统维修方法 | 第61-63页 |
| ·面板水平线缺陷维修方法的改善 | 第63-65页 |
| ·面板水平线缺陷维修方法改善前后的成功率比较 | 第65-66页 |
| 第六章 结论与展望 | 第66-67页 |
| ·总结 | 第66页 |
| ·本论文的后续工作 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |