| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-25页 |
| ·研究背景 | 第14-16页 |
| ·射频识别市场发展趋势 | 第16页 |
| ·超高频射频识别阅读器的研发现状 | 第16-19页 |
| ·论文主要贡献 | 第19-20页 |
| ·论文组织结构和研究内容 | 第20-21页 |
| 参考文献 | 第21-25页 |
| 第2章 超高频射频识别技术基础 | 第25-34页 |
| ·射频识别技术 | 第25-29页 |
| ·射频识别技术历史沿革 | 第25-26页 |
| ·射频识别技术使用的频段 | 第26-29页 |
| ·超高频射频识别技术 | 第29-32页 |
| ·天线的电磁场分布 | 第29-30页 |
| ·超高频射频识别系统中的防碰撞算法 | 第30-31页 |
| ·超高频射频识别协议比较 | 第31-32页 |
| 参考文献 | 第32-34页 |
| 第3章 直接变频超高频射频识别阅读器系统分析 | 第34-67页 |
| ·系统结构 | 第34-40页 |
| ·从通用无线收发机结构到超高频射频识别阅读器结构 | 第34-39页 |
| ·正交直接变频阅读器系统 | 第39-40页 |
| ·主要问题讨论 | 第40-58页 |
| ·系统噪声系数 | 第40-46页 |
| ·FM0、Miller编码的误码率 | 第41-43页 |
| ·功率传输模型和系统噪声系数 | 第43-46页 |
| ·前端线性度 | 第46-48页 |
| ·振荡器相位噪声 | 第48-54页 |
| ·发射机邻近信道功率抑制比提出的相位噪声要求 | 第49-51页 |
| ·接收机抗邻道干扰与抗带内阻塞能力提出的相位噪声要求 | 第51-54页 |
| ·建立时间 | 第54-58页 |
| ·链路预算和系统仿真 | 第58-63页 |
| ·链路预算 | 第58-61页 |
| ·系统仿真 | 第61-63页 |
| ·小结 | 第63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 第4章 超高频射频识别阅读器中关键电路设计 | 第67-138页 |
| ·接收机射频前端电路设计 | 第67-80页 |
| ·转换增益分析 | 第69-70页 |
| ·噪声分析 | 第70-73页 |
| ·直流偏移分析 | 第73-75页 |
| ·电路设计 | 第75-80页 |
| ·发射机射频前端电路设计 | 第80-85页 |
| ·正交上变频器设计 | 第81-82页 |
| ·预放大器设计 | 第82-85页 |
| ·锁相环路设计 | 第85-111页 |
| ·锁相环路分析与行为级仿真 | 第85-92页 |
| ·连续时间线性相位分析模型 | 第86-89页 |
| ·锁相环相位噪声分析 | 第89-90页 |
| ·锁相环行为级仿真 | 第90-92页 |
| ·小数分频锁相环杂散分析 | 第92-94页 |
| ·低相位噪声压控振荡器设计 | 第94-99页 |
| ·增量总和调制器设计 | 第99-105页 |
| ·量化噪声整形 | 第99-101页 |
| ·增量总和调制器结构与特点 | 第101-105页 |
| ·其它电路设计 | 第105-111页 |
| ·预分频器与主分频器 | 第106-107页 |
| ·鉴频相器与电荷泵 | 第107-109页 |
| ·环路滤波器 | 第109-111页 |
| ·基带电路设计 | 第111-131页 |
| ·基带滤波器设计 | 第113-123页 |
| ·接收基带信道选择滤波器设计 | 第113-121页 |
| ·直流消除电路设计 | 第121页 |
| ·发射基带镜频抑制滤波器设计 | 第121-123页 |
| ·可编程增益放大器设计 | 第123-131页 |
| ·接收基带可编程增益放大器设计 | 第125-128页 |
| ·发射基带可编程增益放大器设计 | 第128-131页 |
| ·小结 | 第131-132页 |
| 参考文献 | 第132-138页 |
| 第5章 超高频射频识别阅读器芯片侧试 | 第138-162页 |
| ·芯片介绍与直流测试结果 | 第138-140页 |
| ·阅读器测试平台与PCB设计介绍 | 第140-143页 |
| ·射频前端性能测试 | 第143-152页 |
| ·输出匹配特性测试 | 第143-145页 |
| ·输入匹配特性测试 | 第145-146页 |
| ·输出功率谱与相位噪声测试 | 第146-149页 |
| ·接收线性度测试 | 第149-150页 |
| ·接收噪声系数测试 | 第150-152页 |
| ·基带电路测试 | 第152-155页 |
| ·接收基带电路增益控制测试 | 第152-154页 |
| ·接收基带传输特性测试 | 第154-155页 |
| ·其它测试 | 第155-157页 |
| ·直流消除时间测试 | 第155-157页 |
| ·完整测试 | 第157-160页 |
| ·输出功率谱测试 | 第157-158页 |
| ·标签读取测试 | 第158-160页 |
| ·小结 | 第160-161页 |
| 参考文献 | 第161-162页 |
| 第6章 总结与展望 | 第162-166页 |
| ·总结 | 第162-164页 |
| ·展望 | 第164-165页 |
| 参考文献 | 第165-166页 |
| 附录 | 第166-210页 |
| 附录A 缩写与符号 | 第166-169页 |
| 附录B 论文中出现的图和表 | 第169-177页 |
| 附录C 阅读器芯片测试系统图 | 第177-182页 |
| 附录D 阅读器FPGA测试平台数字基带设计 | 第182-200页 |
| 附录E 芯片封装结构与管脚说明 | 第200-203页 |
| 附录F 芯片ESD方案与性能 | 第203-206页 |
| 附录G 重要的公式推导 | 第206-208页 |
| 附录H 论文、专利及参与项目列表 | 第208-210页 |
| 致谢 | 第210-211页 |