| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第10-32页 |
| 1.1 红外焦平面技术及应用 | 第10-16页 |
| 1.1.1 红外光电探测器发展进程 | 第10-11页 |
| 1.1.2 红外探测器的结构和分类 | 第11-14页 |
| 1.1.3 碲镉汞红外探测器 | 第14-16页 |
| 1.2 红外探测器调制传递函数 | 第16-24页 |
| 1.2.1 红外探测器性能参数 | 第16-17页 |
| 1.2.2 调制传递函数的定义 | 第17-19页 |
| 1.2.3 光学传递函数 | 第19-20页 |
| 1.2.4 红外焦平面的调制传递函数 | 第20-23页 |
| 1.2.5 调制传递函数国内外研究现状 | 第23-24页 |
| 1.3 焦平面调制传递函数测试方法 | 第24-29页 |
| 1.3.1 正弦光栅靶标法 | 第24-25页 |
| 1.3.2 点扩散函数测试法 | 第25-26页 |
| 1.3.3 狭缝扫描测试法 | 第26页 |
| 1.3.4 刀口扫描测试法 | 第26-27页 |
| 1.3.5 倾斜刀口测试法 | 第27-28页 |
| 1.3.6 方波靶标测试法 | 第28-29页 |
| 1.4 本论文的研究目的和内容结构 | 第29-32页 |
| 第2章 测试系统平台的搭建 | 第32-44页 |
| 2.1 HgCdTe焦平面MTF测试方案的选择 | 第32-34页 |
| 2.1.1 测试器件 | 第33页 |
| 2.1.2 测试镜头标定 | 第33-34页 |
| 2.2 测试系统搭建 | 第34-38页 |
| 2.2.1 黑体选择 | 第34-35页 |
| 2.2.2 靶标选择 | 第35页 |
| 2.2.3 平行光管选择 | 第35-37页 |
| 2.2.4 三维位移平台 | 第37页 |
| 2.2.5 红外焦平面MTF测试方案 | 第37-38页 |
| 2.3 基于Labview的线列/面阵MTF数据采集系统 | 第38-42页 |
| 2.3.1 数据采集系统硬件搭建 | 第39-40页 |
| 2.3.2 红外焦平面器件驱动时序 | 第40页 |
| 2.3.3 数据采集系统软件 | 第40-42页 |
| 2.4 本章小结 | 第42-44页 |
| 第3章 面阵碲镉汞探测器MTF测试 | 第44-74页 |
| 3.1 条纹噪声去除 | 第44-53页 |
| 3.1.1 二维小波变换 | 第45-48页 |
| 3.1.2 双密度双树复数小波变换 | 第48-50页 |
| 3.1.3 小波去除条纹噪声算法 | 第50-53页 |
| 3.2 面阵器件盲元检测 | 第53-57页 |
| 3.2.1 3σ标准差检测法 | 第54页 |
| 3.2.2 滑动窗3σ检测法 | 第54-55页 |
| 3.2.3 盲元检测对比 | 第55-57页 |
| 3.3 靶标刀口角度计算 | 第57-65页 |
| 3.3.1 随机噪声去除 | 第57-59页 |
| 3.3.2 刀口边缘检测 | 第59-62页 |
| 3.3.3 刀口倾斜角度计算 | 第62-65页 |
| 3.4 面阵器件MTF计算 | 第65-73页 |
| 3.4.1 边缘扩散函数的提取 | 第65-70页 |
| 3.4.2 MTF计算 | 第70-72页 |
| 3.4.3 相同条件MTF重复测试 | 第72页 |
| 3.4.4 不同角度MTF测试 | 第72-73页 |
| 3.4.5 不同温度MTF测试 | 第73页 |
| 3.5 本章小结 | 第73-74页 |
| 第4章 线列碲镉汞探测器MTF测试 | 第74-94页 |
| 4.1 线列器件MTF测试原理 | 第74-75页 |
| 4.2 线列器件位置定位 | 第75-79页 |
| 4.3 线列器件MTF计算 | 第79-82页 |
| 4.3.1 ESF曲线生成 | 第79-80页 |
| 4.3.2 线列MTF计算 | 第80-82页 |
| 4.4 线列器件MTF测试 | 第82-93页 |
| 4.4.1 狭缝扫描法与改进倾斜刀口法测试对比 | 第82-85页 |
| 4.4.2 线列器件MTF重复测试 | 第85-86页 |
| 4.4.3 线列器件不同温度MTF测试 | 第86-87页 |
| 4.4.4 框结构线列器件 | 第87-90页 |
| 4.4.5 不同结构线列器件MTF对比 | 第90-92页 |
| 4.4.6 不同像元尺寸MTF对比 | 第92-93页 |
| 4.5 本章小结 | 第93-94页 |
| 第5章 器件不稳定像元和1/f噪声分析 | 第94-104页 |
| 5.1 不稳定像元分析 | 第94-98页 |
| 5.1.1 不稳定像元的定义 | 第94页 |
| 5.1.2 不稳定像元硬件采集系统 | 第94-95页 |
| 5.1.3 不稳定像元的判定 | 第95-96页 |
| 5.1.4 不稳定像元的分类 | 第96-98页 |
| 5.2 器件1/f噪声分析 | 第98-102页 |
| 5.2.1 器件1/f噪声 | 第98-100页 |
| 5.2.2 不稳定像元1/f噪声对比 | 第100-102页 |
| 5.3 本章小结 | 第102-104页 |
| 第6章 总结与展望 | 第104-106页 |
| 6.1 本文总结 | 第104-105页 |
| 6.2 本文展望 | 第105-106页 |
| 参考文献 | 第106-116页 |
| 致谢 | 第116-118页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第118页 |