二维工程图的半脆弱可逆数字水印算法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第13-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第13-14页 |
| 1.2 矢量图形特征简介 | 第14-16页 |
| 1.2.1 矢量图形数据特征 | 第14-15页 |
| 1.2.2 矢量图形水印特点 | 第15-16页 |
| 1.3 二维矢量图可逆水印和脆弱水印研究现状 | 第16-19页 |
| 1.3.1 二维矢量图可逆水印研究现状 | 第16-18页 |
| 1.3.2 二维矢量图脆弱水印研究现状 | 第18-19页 |
| 1.4 论文主要工作和结构 | 第19-20页 |
| 1.4.1 论文主要工作 | 第19页 |
| 1.4.2 论文结构 | 第19-20页 |
| 第2章 可逆水印和脆弱水印技术基础 | 第20-29页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 可逆水印技术概述 | 第20-25页 |
| 2.2.1 可逆水印概念和框架 | 第20-21页 |
| 2.2.2 可逆水印的特征 | 第21-22页 |
| 2.2.3 可逆水印的分类 | 第22页 |
| 2.2.4 可逆水印经典算法 | 第22-25页 |
| 2.3 脆弱水印技术概述 | 第25-27页 |
| 2.3.1 脆弱水印概念和框架 | 第25-26页 |
| 2.3.2 脆弱水印的特征 | 第26-27页 |
| 2.3.3 脆弱水印的分类 | 第27页 |
| 2.4 小结 | 第27-29页 |
| 第3章 可篡改定位的二维工程图半脆弱可逆水印算法 | 第29-40页 |
| 3.1 引言 | 第29页 |
| 3.2 改进的差值扩展变换介绍 | 第29-30页 |
| 3.3 篡改定位水印算法实现 | 第30-32页 |
| 3.3.1 顶点数据预处理 | 第30-31页 |
| 3.3.2 水印生成 | 第31页 |
| 3.3.3 水印嵌入 | 第31-32页 |
| 3.3.4 水印提取与数据恢复 | 第32页 |
| 3.4 实验结果与性能分析 | 第32-39页 |
| 3.4.1 可逆性分析 | 第34-35页 |
| 3.4.2 不可见性分析 | 第35页 |
| 3.4.3 水印容量分析 | 第35-36页 |
| 3.4.4 半脆弱性分析 | 第36-37页 |
| 3.4.5 篡改定位分析 | 第37-39页 |
| 3.5 小结 | 第39-40页 |
| 第4章 基于直方图平移的二维工程图可逆水印算法 | 第40-51页 |
| 4.1 引言 | 第40页 |
| 4.2 直方图平移原理 | 第40-41页 |
| 4.3 HS_C和HS_P水印算法实现 | 第41-44页 |
| 4.3.1 数据预处理 | 第41-43页 |
| 4.3.2 水印嵌入 | 第43-44页 |
| 4.3.3 水印提取与数据恢复 | 第44页 |
| 4.4 实验结果与分析 | 第44-50页 |
| 4.4.1 可逆性分析 | 第46页 |
| 4.4.2 水印容量分析 | 第46-47页 |
| 4.4.3 不可见性分析 | 第47-48页 |
| 4.4.4 半脆弱性分析 | 第48-49页 |
| 4.4.5 内容认证能力分析 | 第49-50页 |
| 4.5 小结 | 第50-51页 |
| 第5章 半脆弱可逆水印系统的设计与实现 | 第51-62页 |
| 5.1 开发环境 | 第51-52页 |
| 5.2 功能分析与模块设计 | 第52页 |
| 5.3 水印系统实现 | 第52-58页 |
| 5.3.1 图形处理与编辑模块实现 | 第53-54页 |
| 5.3.2 水印生成模块 | 第54页 |
| 5.3.3 算法Ⅰ实现 | 第54-56页 |
| 5.3.4 算法Ⅱ实现 | 第56-58页 |
| 5.4 系统主要功能测试 | 第58-61页 |
| 5.5 小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第69-70页 |
| 附录B 攻读学位期间参与的项目 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
