V型腔激光器的自动化在片测试系统设计
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 系统开发背景、主要问题 | 第11-12页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第12-13页 |
| 1.4 本文的主要内容 | 第13页 |
| 1.5 本文的主要创新点 | 第13-14页 |
| 2 自动化在片测试系统相关技术 | 第14-24页 |
| 2.1 可调谐半导体激光器 | 第14-17页 |
| 2.1.1 DFB可调谐激光器 | 第14-15页 |
| 2.1.2 DBR可调谐激光器 | 第15-16页 |
| 2.1.3 垂直腔面发射激光器 | 第16页 |
| 2.1.4 VCL可调谐激光器 | 第16-17页 |
| 2.2 测试开发环境 | 第17-20页 |
| 2.2.1 虚拟仪器技术特点 | 第17-19页 |
| 2.2.2 LabVIEW语言特点 | 第19-20页 |
| 2.2.3 系统硬件结构 | 第20页 |
| 2.3 测试仪通信协议 | 第20-23页 |
| 2.3.1 PCI总线 | 第20-21页 |
| 2.3.2 并行、串行总线 | 第21-22页 |
| 2.3.3 GPIB总线 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 可行性分析、方案确定与硬件设计 | 第24-36页 |
| 3.1 可行性分析 | 第24页 |
| 3.2 系统设计方案 | 第24-28页 |
| 3.2.1 系统结构与自动化方案 | 第24-26页 |
| 3.2.2 光电结构分析与方案 | 第26-27页 |
| 3.2.3 机械结构分析与方案 | 第27-28页 |
| 3.3 系统硬件设计 | 第28-35页 |
| 3.3.1 光电设计 | 第28-32页 |
| 3.3.2 机械设计 | 第32-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 4 自动化片上测试系统设计与实现 | 第36-50页 |
| 4.0 激光器控制 | 第37-39页 |
| 4.1 初步测试设计 | 第39-40页 |
| 4.2 电特性测试设计 | 第40-42页 |
| 4.2.1 二极管等效电路模型 | 第40-41页 |
| 4.2.2 测试流程设计与实现 | 第41-42页 |
| 4.3 L-I测试设计 | 第42-43页 |
| 4.4 调谐性能测试设计 | 第43-44页 |
| 4.5 自动加电设计 | 第44-47页 |
| 4.5.1 参数设置与校准 | 第45-46页 |
| 4.5.2 流程设计与实现 | 第46-47页 |
| 4.6 自动对光设计 | 第47-49页 |
| 4.6.1 参数设置与校准 | 第47-48页 |
| 4.6.2 流程设计与实现 | 第48-49页 |
| 4.7 本章小结 | 第49-50页 |
| 5 系统测试 | 第50-58页 |
| 5.1 I-V测试 | 第51-52页 |
| 5.2 L-I测试 | 第52-53页 |
| 5.3 波长调谐测试 | 第53页 |
| 5.4 性能分析 | 第53-57页 |
| 5.4.1 测试标准 | 第54-56页 |
| 5.4.2 I-V重复测试 | 第56-57页 |
| 5.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 6 总结与展望 | 第58-60页 |
| 6.1 总结 | 第58页 |
| 6.2 展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 附录1 | 第62页 |
