中低压配电网技术降损综合措施及降损潜力研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.3 本文主要工作内容 | 第14-15页 |
| 第2章 配电网技术降损措施研究 | 第15-29页 |
| 2.1 配电网线损概述 | 第15-16页 |
| 2.1.1 线损及线损率 | 第15页 |
| 2.1.2 配电网线损的构成和分类 | 第15-16页 |
| 2.2 配电变压器的经济运行 | 第16-21页 |
| 2.2.1 变压器的技术参数与功率损耗 | 第17-18页 |
| 2.2.2 配电变压器经济负载系数与经济运行区间 | 第18-21页 |
| 2.3 配电网络重构 | 第21-25页 |
| 2.3.1 配电网网络结构分析 | 第21-22页 |
| 2.3.2 配电网潮流计算方法简介 | 第22-24页 |
| 2.3.3 配电网重构的数学模型 | 第24-25页 |
| 2.4 配电网无功补偿 | 第25-28页 |
| 2.4.1 配电网无功补偿的模型 | 第25-26页 |
| 2.4.2 配电网无功补偿方式 | 第26-27页 |
| 2.4.3 配电网无功补偿的常用装置 | 第27-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 中低压配电网技术降损综合措施 | 第29-42页 |
| 3.1 配电网技术降损综合措施模型 | 第29-30页 |
| 3.2 遗传算法理论 | 第30-33页 |
| 3.3 遗传算法在综合技术降损中的应用及改进 | 第33-37页 |
| 3.3.1 建立适应度函数 | 第33-34页 |
| 3.3.2 染色体编码 | 第34页 |
| 3.3.3 不可行解的修复 | 第34-35页 |
| 3.3.4 染色体择优保留 | 第35-36页 |
| 3.3.5 变异率与交叉率的改进 | 第36-37页 |
| 3.4 算法流程 | 第37-38页 |
| 3.5 算例分析 | 第38-41页 |
| 3.5.1 本文方法与降损措施1的对比 | 第39-40页 |
| 3.5.2 本文方法与降损措施2的对比 | 第40页 |
| 3.5.3 本文方法与降损措施3的对比 | 第40-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 中低压配电网降损潜力评估 | 第42-48页 |
| 4.1 配电网降损潜力评估指标 | 第42-43页 |
| 4.2 配电网单项降损措施的降损潜力评估 | 第43-45页 |
| 4.2.1 配电变压器经济运行的降损潜力 | 第43-44页 |
| 4.2.2 配电网络重构的降损潜力 | 第44页 |
| 4.2.3 配电网无功补偿的降损潜力 | 第44-45页 |
| 4.3 配电网综合降损潜力评估方法 | 第45-46页 |
| 4.4 算例分析 | 第46-47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 结论与展望 | 第48-50页 |
| 5.1 结论 | 第48页 |
| 5.2 展望 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
