| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-23页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 空间辐照环境及辐照效应 | 第9-11页 |
| 1.2.1 空间辐照环境 | 第9-10页 |
| 1.2.2 空间辐照效应 | 第10-11页 |
| 1.2.3 地面辐照试验模拟 | 第11页 |
| 1.3 带电粒子辐照对聚酰亚胺损伤行为 | 第11-13页 |
| 1.4 综合辐照耦合效应研究现状 | 第13-14页 |
| 1.5 带电粒子辐照诱发自由基的研究 | 第14-22页 |
| 1.5.1 带电粒子诱发自由基形成过程 | 第14-15页 |
| 1.5.2 自由基稳定性研究 | 第15-17页 |
| 1.5.3 自由基反应机制 | 第17-20页 |
| 1.5.4 自由基检测方法 | 第20-22页 |
| 1.6 本文研究内容 | 第22-23页 |
| 第2章 试验材料与方法 | 第23-28页 |
| 2.1 试验材料 | 第23页 |
| 2.2 辐照设备及方案 | 第23-26页 |
| 2.3 测试设备 | 第26-28页 |
| 2.3.1 光学性能分析 | 第26页 |
| 2.3.2 电子顺磁共振分析 | 第26页 |
| 2.3.3 傅立叶变换红外光谱分析 | 第26页 |
| 2.3.4 拉曼光谱分析 | 第26-28页 |
| 第3章 聚酰亚胺光学性能退化研究 | 第28-42页 |
| 3.1 170keV 质子与 80keV 电子综合辐照对 PI 光学性能影响 | 第28-34页 |
| 3.1.1 辐照注量对 PI 光学性能的影响 | 第28-30页 |
| 3.1.2 PI 光学性能损伤的时效回复 | 第30-34页 |
| 3.2 170keV 质子与 150keV 电子辐照对 PI 光学性能影响 | 第34-39页 |
| 3.2.1 辐照注量对 PI 光学性能的影响 | 第34页 |
| 3.2.2 PI 光学性能的损伤时效回复 | 第34-39页 |
| 3.3 150keV 电子辐照对聚酰亚胺光学性能损伤 | 第39-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-42页 |
| 第4章 综合辐照聚酰亚胺损伤机理 | 第42-54页 |
| 4.1 辐照诱发自由基的形成与演化规律 | 第42-51页 |
| 4.1.1 电子顺磁共振参数选取 | 第42-43页 |
| 4.1.2 粒子辐照注量对自由基的影响 | 第43-44页 |
| 4.1.3 自由基在空气中的时效行为 | 第44-50页 |
| 4.1.4 聚酰亚胺光学性能回复的自由基演化机制 | 第50-51页 |
| 4.2 红外光谱分析 | 第51-52页 |
| 4.3 拉曼光谱分析 | 第52-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
