| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-22页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·陶瓷材料显微结构的描述 | 第9-11页 |
| ·陶瓷材料显微结构的定义 | 第9页 |
| ·陶瓷晶粒的描述 | 第9-11页 |
| ·陶瓷烧结过程的描述 | 第11-20页 |
| ·烧结理论概述 | 第11-12页 |
| ·固态烧结 | 第12-16页 |
| ·晶粒生长和二次再结晶 | 第16-18页 |
| ·晶粒生长动力学模型 | 第18-20页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第20-22页 |
| 第二章 实验方法 | 第22-29页 |
| ·实验内容 | 第22-24页 |
| ·试样制备 | 第22-23页 |
| ·分析仪器 | 第23-24页 |
| ·数据采集 | 第24-29页 |
| ·QuantLab-MG的颗粒分析功能 | 第24页 |
| ·本研究图像处理 | 第24-29页 |
| 第三章 多晶材料中晶粒形状参数的提出及可信度分析 | 第29-36页 |
| ·多晶材料中晶粒形貌参数的提出 | 第29-32页 |
| ·多晶材料中形状参数的可信度分析 | 第32-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第四章 P/A~(0.5)值在陶瓷烧结及晶界效应研究中的应用 | 第36-46页 |
| ·P/A~(0.5)值在陶瓷烧结方面的研究 | 第36-39页 |
| ·晶粒的P/A~(0.5)值作为表征晶粒形状参数的提出 | 第36页 |
| ·晶粒的P/A~(0.5)值在陶瓷烧结理论研究中的应用 | 第36-39页 |
| ·小结 | 第39页 |
| ·P/A~(0.5)值在立方ZrO_2陶瓷"晶界效应"研究中的应用 | 第39-46页 |
| ·陶瓷材料中的晶界结构 | 第39-40页 |
| ·立方ZrO_2陶瓷的晶界电性能测试 | 第40-44页 |
| ·结果与讨论 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 结论 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-51页 |
| 攻读硕士期间取得的学术成果 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
