| 中文摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 论文主要工作及组织结构 | 第14-16页 |
| 第2章 Bayer彩色滤波阵列及插值方法 | 第16-24页 |
| 2.1 Bayer模式彩色图像成像原理 | 第16-18页 |
| 2.1.1 Bayer模式的CFA | 第16-17页 |
| 2.1.2 CFA插值原理 | 第17页 |
| 2.1.3 彩色图像成像过程 | 第17-18页 |
| 2.2 图像处理常用的插值方法 | 第18-23页 |
| 2.2.1 常用的插值方法 | 第18-22页 |
| 2.2.2 插值信号的形态 | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 基于周期性和Radon变换的插值检测 | 第24-37页 |
| 3.1 插值信号周期性推导 | 第24-26页 |
| 3.1.1 一维插值信号的周期性 | 第24-26页 |
| 3.1.2 一维信号周期性到二维信号的扩展 | 第26页 |
| 3.2 基于周期性和Radon变换的插值检测 | 第26-29页 |
| 3.2.1 Radon变换 | 第27-28页 |
| 3.2.2 图像插值检测算法 | 第28-29页 |
| 3.3 图像插值检测实验结果 | 第29-36页 |
| 3.3.1 不同来源的图像插值检测 | 第30-31页 |
| 3.3.2 不同插值方法和不同图像编辑软件下的插值检测 | 第31-35页 |
| 3.3.3 实验分析 | 第35-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 基于双立方插值和高斯混合模型的图像盲取证 | 第37-51页 |
| 4.1 基于预测误差的特征提取 | 第37-41页 |
| 4.1.1 基于双立方插值的原图预测 | 第37-38页 |
| 4.1.2 基于预测误差方差的特征图 | 第38-41页 |
| 4.2 基于高斯混合模型的特征建模 | 第41-45页 |
| 4.2.1 基于篡改区域和非篡改区域的GMM建模 | 第41-42页 |
| 4.2.2 EM算法估计GMM参数 | 第42-45页 |
| 4.3 基于贝叶斯定理的似然图 | 第45-46页 |
| 4.4 篡改检测实验结果 | 第46-50页 |
| 4.4.1 Benchmark复制-粘贴图像库检测结果 | 第46-47页 |
| 4.4.2 哥伦比亚彩色拼接图像库检测结果 | 第47-49页 |
| 4.4.3 实验分析 | 第49-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 总结与展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第58-60页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第60页 |