PandaX-Ⅲ实验时间投影室信号读出方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 无中微子双β衰变简介 | 第10-12页 |
| 1.2 国际上的无中微子双β衰变实验 | 第12-17页 |
| 1.3 我国的无中微子双β探测实验 | 第17-19页 |
| 1.4 本论文内容结构 | 第19-20页 |
| 参考文献 | 第20-22页 |
| 第二章 PandaX-Ⅲ时间投影室及其信号特点 | 第22-32页 |
| 2.1 PandaX-Ⅲ实验装置 | 第22-23页 |
| 2.2 时间投影室 | 第23-26页 |
| 2.2.1 时间投影室工作原理 | 第23-25页 |
| 2.2.2 时间投影室端盖读出探测器 | 第25-26页 |
| 2.3 微网结构气体探测器 | 第26-28页 |
| 2.3.1 Micromegas工作原理 | 第26-28页 |
| 2.3.2 Micromegas的优势与工艺 | 第28页 |
| 2.4 PandaX-Ⅲ信号特点 | 第28-31页 |
| 参考文献 | 第31-32页 |
| 第三章 PandaX-Ⅲ电路分析及仿真 | 第32-46页 |
| 3.1 AGET电路分析及建模 | 第32-36页 |
| 3.2 不同宽度信号仿真 | 第36-37页 |
| 3.3 波形采样电路噪声对测量精度的影响 | 第37-39页 |
| 3.4 探测器及前端模拟电路噪声对测量精度的影响 | 第39-41页 |
| 3.5 采样率对测量精度的影响 | 第41-43页 |
| 3.6 不同成型时间的影响 | 第43页 |
| 3.7 本章小结 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-46页 |
| 第四章 信号读出验证电路设计 | 第46-58页 |
| 4.1 验证电路的整体设计 | 第46页 |
| 4.2 前端模拟板设计 | 第46-48页 |
| 4.3 数据采集板硬件设计 | 第48-52页 |
| 4.4 数据传输逻辑设计 | 第52-54页 |
| 4.5 数据判选逻辑 | 第54-56页 |
| 4.6 本章小结 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-58页 |
| 第五章 验证测试结果及分析 | 第58-74页 |
| 5.1 测试平台及软件 | 第58-59页 |
| 5.2 验证电路性能评估 | 第59-63页 |
| 5.2.1 ADC空采噪声测试 | 第59页 |
| 5.2.2 ADC性能测试 | 第59-60页 |
| 5.2.3 电路线性度测试 | 第60-63页 |
| 5.3 双板联合验证测试 | 第63-71页 |
| 5.3.1 信号不同宽度测试 | 第64-68页 |
| 5.3.2 采样率对测量精度影响的验证 | 第68页 |
| 5.3.3 不同成形时间的影响 | 第68-69页 |
| 5.3.4 不同RfCf常数的影响 | 第69-71页 |
| 5.4 本章小结 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-75页 |
| 附录1 前端模拟板 | 第75-76页 |
| 附录2 数据采集板 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第78页 |
