摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-12页 |
1 绪论 | 第12-24页 |
·热电效应基本原理 | 第12-15页 |
·塞贝克效应 | 第12-13页 |
·帕尔贴效应 | 第13-14页 |
·汤姆逊效应 | 第14-15页 |
·电传输特性 | 第15-16页 |
·热传导特性 | 第16-17页 |
·热电材料的研究现状 | 第17-22页 |
·传统热电材料的研究现状 | 第17-18页 |
·新型热电材料 | 第18-19页 |
·碲化铋基热电材料的研究现状 | 第19-21页 |
·急冷甩带法制备热电材料的研究现状 | 第21-22页 |
·研究目的、依据与主要研究内容 | 第22-24页 |
·研究目的 | 第22页 |
·研究依据 | 第22页 |
·主要研究内容 | 第22-24页 |
2 实验方法 | 第24-33页 |
·实验步骤流程 | 第24-25页 |
·试样的制备 | 第25-27页 |
·原料 | 第25页 |
·主要实验仪器 | 第25页 |
·块体合金的熔炼 | 第25-26页 |
·合金薄带的制备 | 第26-27页 |
·破碎制粉 | 第27页 |
·块体材料制备 | 第27页 |
·性能检测 | 第27-33页 |
·X射线衍射分析(XRD) | 第28页 |
·扫描电子显微镜分析(SEM) | 第28-29页 |
·材料热电性能测试分析 | 第29-31页 |
·材料物理性能测试分析 | 第31-33页 |
3 P型Bi_2Te_3基热电材料的急冷甩带结合热压法制备的工艺研究 | 第33-48页 |
·急冷甩带工艺概述 | 第33页 |
·急冷甩带法制备P型Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3的合金粉末XRD结果及分析 | 第33-34页 |
·薄带的微观形貌分析 | 第34-38页 |
·薄带的制备 | 第34-35页 |
·薄带的形貌分析 | 第35-38页 |
·热压工艺对P型Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3块状样品性能的影响 | 第38-43页 |
·温度对材料电性能的影响 | 第38-40页 |
·压力对材料电性能的影响 | 第40-42页 |
·时间对材料电性能的影响 | 第42-43页 |
·优化工艺下的P型变温热电性能的研究 | 第43-45页 |
·热压工艺对P型Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3块状样品力学性能的影响 | 第45页 |
·初始粉末粒度对材料的热电性能的影响 | 第45-46页 |
·小结 | 第46-48页 |
4 P型Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3+xwt% Te试验和性能研究 | 第48-58页 |
·P型Bi_2Te_3基热电材料概述 | 第48页 |
·P型Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3+ xwt% Te的成分分析 | 第48-50页 |
·P型薄带的成分分析 | 第48-49页 |
·P型块体材料的成分分析 | 第49-50页 |
·过量Te对Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3+xwt%Te块体材料电性能的影响 | 第50-52页 |
·急冷甩带对P型Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3+xwt% Te的热电性能的影响 | 第52-55页 |
·急冷甩带对P型Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3+xwt% Te的电传输性能的影响 | 第52-54页 |
·急冷甩带对P型Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3+xwt% Te的热性能的影响 | 第54-55页 |
·Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3+2wt%Te块体材料的断口分析 | 第55页 |
·不同工艺制备P型样品的机械性能研究 | 第55-56页 |
·小结 | 第56-58页 |
5 N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)的掺杂试验和性能研究 | 第58-66页 |
·N型热电材料掺杂概述 | 第58页 |
·N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)热电材料的急冷甩带结合热压法制备及性能研究 | 第58页 |
·N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)薄带和块体的微结构分析 | 第58-61页 |
·N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)薄带形貌分析 | 第58-59页 |
·N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)块体材料XRD分析 | 第59-61页 |
·N型断口形貌分析 | 第61页 |
·过量Se对N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)块体材料的电性能影响 | 第61-63页 |
·N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)过量Se的电性能分析 | 第61-63页 |
·N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)掺杂Se的成分分析 | 第63页 |
·N型掺杂TeI_4性能的研究 | 第63-65页 |
·掺杂0.04wt%TeI_4的N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)的电性能 | 第64页 |
·掺杂0.04wt%TeI_4的N型Bi_2Te_(2.7)Se_(0.3)的断口分析 | 第64-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
结论 | 第66-68页 |
参考文献 | 第68-74页 |
攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第74-75页 |
致谢 | 第75页 |