正应力测试仪的研究与开发
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 前言 | 第10-13页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 课题主要研究内容 | 第12-13页 |
| 第2章 正应力测试仪系统整体设计及工作原理 | 第13-17页 |
| 2.1 正应力测试仪工艺环境及技术指标 | 第13页 |
| 2.1.1 正应力测试仪工艺环境 | 第13页 |
| 2.1.2 正应力测试仪技术指标 | 第13页 |
| 2.2 正应力测试仪系统整体设计 | 第13-16页 |
| 2.2.1 整体研究思路 | 第14页 |
| 2.2.2 正应力测试仪工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2.3 具体研究开发流程 | 第15-16页 |
| 2.3 本章小结 | 第16-17页 |
| 第3章 正应力测试仪机械结构设计 | 第17-24页 |
| 3.1 机械结构整体组成 | 第17页 |
| 3.2 检测部件设计与测量原理 | 第17-19页 |
| 3.2.1 检测部件设计 | 第17-18页 |
| 3.2.2 检测部件测量原理 | 第18-19页 |
| 3.3 基体护套设计 | 第19-20页 |
| 3.4 密封护套设计 | 第20-21页 |
| 3.5 紧固部件设计 | 第21页 |
| 3.6 耐高压密封设计 | 第21-22页 |
| 3.6.1 氟橡胶多级高温密封圈结构 | 第21-22页 |
| 3.6.2 高压导热专业密封胶灌装密封 | 第22页 |
| 3.7 立体效果图 | 第22-23页 |
| 3.8 本章小结 | 第23-24页 |
| 第4章 正应力测试仪硬件系统设计 | 第24-44页 |
| 4.1 硬件电路整体组成 | 第24-25页 |
| 4.2 信号检测电路设计 | 第25-30页 |
| 4.2.1 应变片测量原理 | 第25-27页 |
| 4.2.2 正应力传感器的设计与制作 | 第27-29页 |
| 4.2.3 桥路检测电路设计 | 第29-30页 |
| 4.3 信号调理电路设计 | 第30-36页 |
| 4.3.1 放大电路设计 | 第31-33页 |
| 4.3.2 滤波电路设计 | 第33-35页 |
| 4.3.3 A/D电路设计 | 第35-36页 |
| 4.4 主控制电路设计 | 第36-37页 |
| 4.5 数据存储电路设计 | 第37-38页 |
| 4.6 通讯电路设计 | 第38-39页 |
| 4.7 电源电路设计 | 第39-41页 |
| 4.7.1 模拟电源供电电路设计 | 第39-40页 |
| 4.7.2 数字电源供电电路设计 | 第40页 |
| 4.7.3 电桥供电电路设计 | 第40-41页 |
| 4.7.4 高温电池选型 | 第41页 |
| 4.8 电路原理图与PCB图的设计 | 第41-43页 |
| 4.9 本章小结 | 第43-44页 |
| 第5章 正应力测试仪软件系统设计 | 第44-61页 |
| 5.1 软件组成及功能概述 | 第44-45页 |
| 5.2 下位机程序设计与开发 | 第45-54页 |
| 5.2.1 下位机程序体系结构设计 | 第45页 |
| 5.2.2 CPU主控程序设计 | 第45-46页 |
| 5.2.3 A/D采集程序设计 | 第46-50页 |
| 5.2.4 数据存储程序设计 | 第50-52页 |
| 5.2.5 数据通讯程序设计 | 第52-54页 |
| 5.3 上位机程序设计与开发 | 第54-60页 |
| 5.3.1 上位机程序体系结构设计 | 第55页 |
| 5.3.2 通讯接口程序设计 | 第55-57页 |
| 5.3.3 数据转换程序设计 | 第57-58页 |
| 5.3.4 数据存储与显示程序设计 | 第58-60页 |
| 5.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 第6章 正应力测试仪调试与现场试验 | 第61-81页 |
| 6.1 系统的软、硬件电路调试 | 第61-65页 |
| 6.1.1 供电电路调试 | 第61页 |
| 6.1.2 应变桥路与A/D采集通道调试 | 第61-62页 |
| 6.1.3 数据存储与数据通讯调试 | 第62-63页 |
| 6.1.4 上位机存储与转换模块调试 | 第63-65页 |
| 6.2 测试仪精度调试 | 第65-70页 |
| 6.2.1 精度校准试验台 | 第65-67页 |
| 6.2.2 精度校准实验 | 第67-70页 |
| 6.3 测试仪强度、耐温测试 | 第70-75页 |
| 6.3.1 测试仪拉伸强度测试 | 第70-71页 |
| 6.3.2 测试仪密封测试 | 第71-73页 |
| 6.3.3 测试仪电路板耐温测试 | 第73-74页 |
| 6.3.4 测试仪模拟井综合测试 | 第74-75页 |
| 6.4 测试仪现场实验 | 第75-80页 |
| 6.4.1 现场实验 | 第75-77页 |
| 6.4.2 实验数据分析 | 第77-80页 |
| 6.4.3 实验结论 | 第80页 |
| 6.5 本章小结 | 第80-81页 |
| 总结与展望 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |
