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硅基电光调制器的理论分析与结构设计

摘要第6-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 绪论第11-19页
    1.1 研究背景第11-12页
    1.2 硅基电光调制器的发展现状第12-13页
    1.3 硅基电光调制器的分类第13-17页
        1.3.1 电学结构的分类第13-14页
        1.3.2 光学结构的分类第14-16页
        1.3.3 电光调制器的性能参数第16-17页
    1.4 基于场致线性电光效应的硅基电光调制器的研究意义及创新点第17页
    1.5 本文的工作第17-19页
第2章 硅基电光调制器的理论基础第19-31页
    2.1 电光效应第19-24页
        2.1.1 Pockles电光效应第19-23页
        2.1.2 Kerr电光效应第23-24页
    2.2 应力诱导的线性电光效应第24-26页
    2.3 在电场作用下硅材料的对称性改变第26-31页
第3章 基于场致线性电光效应的硅基电光调制器的基本理论第31-46页
    3.1 硅材料场致线性电光效应的研究第31页
    3.2 在晶向为[111]加电场诱导的场致线性电光效应第31-35页
    3.3 在晶向为[001]加电场诱导的场致线性电光效应第35-39页
    3.4 在晶向为[011]加电场诱导的场致线性电光效应第39-45页
    3.5 本章小结第45-46页
第4章 基于场致线性电光效应的硅基电光调制器的电学结构设计第46-78页
    4.1 SILVACO TCAD软件简介第46-50页
        4.1.1 半导体器件仿真软件第46页
        4.1.2 模拟数值模型第46-48页
        4.1.3 网格划分第48-49页
        4.1.4 矩形网格第49页
        4.1.5 三角形网格第49-50页
    4.2 处于耗尽态的MIS电容结构的特性研究第50-56页
        4.2.1 器件原理介绍第50-51页
        4.2.2 模型参数设定第51-52页
        4.2.3 耗尽态的MIS结构的阀值电压第52页
        4.2.4 电场分布的仿真结果第52-56页
    4.3 反偏的肖特基势垒结构的特性研究第56-63页
        4.3.1 器件原理介绍第56页
        4.3.2 器件数值模型第56-57页
        4.3.3 模型参数设定第57-59页
        4.3.4 肖特基势垒结构的阀值电压第59页
        4.3.5 电场分布的模拟结果第59-63页
    4.4 反偏的PIN结构的特性研究第63-70页
        4.4.1 器件原理介绍第63-64页
        4.4.2 模型参数设定第64-65页
        4.4.3 反偏的PIN结构的阀值电压第65-66页
        4.4.4 电场分布的仿真结果第66-70页
    4.5 反偏的PN结构的特性研究第70-76页
        4.5.1 器件原理介绍第70-71页
        4.5.2 模型参数设定第71-72页
        4.5.3 反偏的PN结构的阀值电压第72-73页
        4.5.4 电场分布的仿真结果第73-76页
    4.6 本章小结第76-78页
第5章 总结与展望第78-80页
参考文献第80-82页
攻读学位期间发表的学术论文第82-83页
致谢第83-84页
个人简历第84页

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