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基于SiC MOSFET的直流固态变压器优化设计与可靠性评估

中文摘要第3-5页
英文摘要第5-6页
1 绪论第9-19页
    1.1 课题的研究背景和意义第9页
    1.2 国内外相关研究现状第9-16页
        1.2.1 SiC功率器件研究现状第9-12页
        1.2.2 直流固态变压器研究现状第12-16页
        1.2.3 直流固态变压器存在的问题第16页
    1.3 本文主要工作第16-19页
2 DAB拓扑小信号建模与控制第19-35页
    2.1 DAB小信号建模第19-25页
        2.1.1 工作状态分析第19-22页
        2.1.2 传递函数求解第22-25页
    2.2 DAB电压闭环控制设计第25-28页
        2.2.1 闭环控制器分析第25-26页
        2.2.2 电压闭环补偿器参数设计第26-28页
    2.3 DAB电压闭环扰动仿真分析第28-31页
        2.3.1 负载功率跃变扰动仿真第29-30页
        2.3.2 输入电压含低频扰动仿真第30-31页
    2.4 DAB负载扰动实验第31-33页
        2.4.1 实验平台第31页
        2.4.2 实验结果分析第31-33页
    2.5 本章小结第33-35页
3 DAB直流固态变压器样机优化设计第35-63页
    3.1 固态变压器本体设计第35-42页
        3.1.1 磁芯设计第35-37页
        3.1.2 绕组设计第37-42页
    3.2 DAB拓扑辅助电感标定第42-47页
        3.3.1 传输功率边界条件第42-43页
        3.3.2 电流应力边界条件第43-45页
        3.3.3 电流有效值边界条件第45-47页
    3.3 SIC MOSFET与Si IGBT动静态特性对比第47-54页
        3.3.1 功率器件结构及工作原理第47-48页
        3.3.2 器件静态特性第48-52页
        3.3.3 器件动态特性第52-54页
    3.4 固态变压器样机效率曲线数据采集第54-61页
        3.4.1 样机功率损耗理论分析第54-57页
        3.4.2 样机多带载率实验第57-61页
    3.5 本章小结第61-63页
4 计及热耦合效应的直流固态变压器用功率器件可靠性评估第63-87页
    4.1 SIC MOSFET与Si IGBT寿命对比评估第63-72页
        4.1.1 有限元可靠性评估模型第64-66页
        4.1.2 疲劳损伤分析及寿命模型第66-69页
        4.1.3 寿命预估结果验证与对比第69-72页
    4.2 计及多热源耦合的DAB热网络模型第72-79页
        4.2.1 DAB有限元热模型第72-75页
        4.2.2 DAB耦合热阻提取第75-79页
    4.3 配电网直流固态变压器用功率器件寿命评估第79-85页
        4.3.1 DAB带载联合仿真第80-82页
        4.3.2 功率器件可靠性评估第82-85页
    4.4 本章小结第85-87页
5 总结展望第87-89页
    5.1 工作总结第87-88页
    5.2 未来展望第88-89页
致谢第89-91页
参考文献第91-97页
附录第97页
    A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录第97页
    B. 作者在攻读硕士学位期间参加的科研项目第97页

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