MCU芯片测试系统研究与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状和发展趋势 | 第10-12页 |
| 1.2.1 MCU芯片测试技术的发展现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 MCU芯片测试系统发展现状 | 第11-12页 |
| 1.3 测试系统的主要功能和技术指标 | 第12-13页 |
| 1.3.1 系统功能 | 第12-13页 |
| 1.3.2 系统技术指标 | 第13页 |
| 1.4 论文研究的主要内容 | 第13-14页 |
| 1.5 论文组织安排 | 第14-15页 |
| 第2章 芯片测试原理 | 第15-26页 |
| 2.1 故障及其分类 | 第15页 |
| 2.2 测试分类 | 第15-16页 |
| 2.3 直流参数测试 | 第16页 |
| 2.4 逻辑测试 | 第16-24页 |
| 2.4.1 故障覆盖率 | 第16-17页 |
| 2.4.2 测试周期 | 第17-18页 |
| 2.4.3 常用两种测试方法 | 第18-20页 |
| 2.4.4 通用测试集合 | 第20-24页 |
| 2.5 测试向量 | 第24-25页 |
| 2.6 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 MCU芯片测试系统总体设计 | 第26-33页 |
| 3.1 系统总体方案 | 第26-28页 |
| 3.1.1 系统总体结构 | 第26-27页 |
| 3.1.2 系统工作流程 | 第27-28页 |
| 3.2 硬件结构设计 | 第28-29页 |
| 3.3 软件流程设计 | 第29-32页 |
| 3.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 系统设计与实现 | 第33-52页 |
| 4.1 硬件设计与实现 | 第33-42页 |
| 4.1.1 主要元器件选型 | 第33页 |
| 4.1.2 单元电路设计 | 第33-40页 |
| 4.1.3 硬件平台程序设计 | 第40-42页 |
| 4.2 软件设计与实现 | 第42-50页 |
| 4.2.1 上位机界面 | 第42-43页 |
| 4.2.2 通信模块 | 第43-44页 |
| 4.2.3 测试模块 | 第44-48页 |
| 4.2.4 数据库模块 | 第48-50页 |
| 4.3 MCU芯片测试系统成品 | 第50-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 系统测试结果分析与总结 | 第52-61页 |
| 5.1 测试界面 | 第52-55页 |
| 5.2 测试结果与分析 | 第55-58页 |
| 5.2.1 芯片测试系统功能测试结果与分析 | 第55-57页 |
| 5.2.2 芯片测试系统性能测试结果与分析 | 第57-58页 |
| 5.3 系统的进一步改进 | 第58-60页 |
| 5.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
