基于CMOS工艺的高性能仪表放大器设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究进展 | 第11-13页 |
| 1.3 论文的工作与结构 | 第13-15页 |
| 第2章 仪表放大器概述 | 第15-29页 |
| 2.1 仪表放大器的重要指标 | 第15-18页 |
| 2.1.1 噪声和失调 | 第15-16页 |
| 2.1.2 共模抑制 | 第16-17页 |
| 2.1.3 功耗 | 第17-18页 |
| 2.1.4 电源抑制比 | 第18页 |
| 2.2 仪表放大器的经典结构 | 第18-24页 |
| 2.2.1 传统的三运放仪表放大器 | 第18-19页 |
| 2.2.2 电流反馈式仪表放大器 | 第19-20页 |
| 2.2.3 自动归零仪表放大器 | 第20-21页 |
| 2.2.4 斩波稳定仪表放大器 | 第21-24页 |
| 2.3 非理想因素讨论 | 第24-28页 |
| 2.3.1 MOS噪声分析 | 第24-25页 |
| 2.3.2 KT/C噪声 | 第25-26页 |
| 2.3.3 MOS开关的非理想因素 | 第26-27页 |
| 2.3.4 放大器的有限增益 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 仪表放大器结构设计 | 第29-38页 |
| 3.1 仪表放大器的结构 | 第29-31页 |
| 3.1.1 仪表放大器结构分析 | 第29-31页 |
| 3.1.2 斩波频率的选择 | 第31页 |
| 3.2 运算放大器参数计算 | 第31-34页 |
| 3.2.1 开环增益 | 第31-32页 |
| 3.2.2 增益带宽积和相位裕度 | 第32-33页 |
| 3.2.3 噪声计算 | 第33-34页 |
| 3.3 共模反馈电路 | 第34-35页 |
| 3.4 频率补偿 | 第35-37页 |
| 3.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 仪表放大器电路设计 | 第38-49页 |
| 4.1 仪表放大器电路设计与仿真 | 第38-45页 |
| 4.1.1 放大器电路 | 第38-41页 |
| 4.1.2 调制器的电路 | 第41-43页 |
| 4.1.3 两相不交叠时钟产生电路 | 第43-44页 |
| 4.1.4 缓冲器 | 第44-45页 |
| 4.2 仪表放大器总体仿真 | 第45-47页 |
| 4.3 本章小结 | 第47-49页 |
| 第5章 版图设计及其后仿真 | 第49-54页 |
| 5.1 版图设计 | 第49-50页 |
| 5.1.1 放大器版图 | 第49-50页 |
| 5.1.2 缓冲器版图设计 | 第50页 |
| 5.1.3 整体电路版图 | 第50页 |
| 5.2 版图后仿真 | 第50-53页 |
| 5.2.1 放大器后仿真 | 第52页 |
| 5.2.2 缓冲器后仿真 | 第52页 |
| 5.2.3 调制器后仿真 | 第52-53页 |
| 5.3 本章小结 | 第53-54页 |
| 第6章 总结与展望 | 第54-56页 |
| 6.1 总结 | 第54页 |
| 6.2 展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 作者介绍及科研成果 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
