基于圈复杂度和调用次数的测试用例排序方法
| 摘要 | 第2-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-12页 |
| 1.1 研究背景 | 第7-9页 |
| 1.2 课题来源 | 第9页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第9-10页 |
| 1.4 本文的创新点 | 第10-11页 |
| 1.5 章节安排 | 第11-12页 |
| 第2章 测试相关理论概念 | 第12-23页 |
| 2.1 回归测试 | 第12-13页 |
| 2.2 圈复杂度 | 第13-16页 |
| 2.2.1 圈复杂度概念 | 第13-14页 |
| 2.2.2 圈复杂度计算 | 第14-15页 |
| 2.2.3 圈复杂度的度量工具 | 第15-16页 |
| 2.3 测试用例优先级技术 | 第16-20页 |
| 2.3.1 测试优先级技术概述 | 第16页 |
| 2.3.2 测试优先级划分准则 | 第16-17页 |
| 2.3.3 测试优先级技术分类 | 第17-19页 |
| 2.3.4 测试优先级技术度量 | 第19-20页 |
| 2.4 程序调用图 | 第20-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 基于覆盖的优先级技术 | 第23-29页 |
| 3.1 基于覆盖的影响因素 | 第23-24页 |
| 3.2 基于覆盖的排序原理 | 第24-25页 |
| 3.3 基于覆盖的排序算法 | 第25-28页 |
| 3.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第4章 基于圈复杂度和调用次数排序算法的研究 | 第29-39页 |
| 4.1 排序索引的影响因素 | 第29-30页 |
| 4.2 排序索引的分析及评估 | 第30-36页 |
| 4.2.1 功能模块的代码复杂度 | 第30-32页 |
| 4.2.2 故障易发性的评估 | 第32-33页 |
| 4.2.3 功能模块的影响范围 | 第33-35页 |
| 4.2.4 故障严重性的评估 | 第35-36页 |
| 4.3 基于圈复杂度和调用次数的排序算法 | 第36-38页 |
| 4.4 本章小结 | 第38-39页 |
| 第5章 实验与分析 | 第39-48页 |
| 5.1 研究问题 | 第39-40页 |
| 5.2 实验环境 | 第40-42页 |
| 5.2.1 实验对象 | 第40-41页 |
| 5.2.2 实验过程 | 第41-42页 |
| 5.3 实验结果分析 | 第42-47页 |
| 5.3.1 测试结果分析 | 第42-46页 |
| 5.3.2 总结和讨论 | 第46-47页 |
| 5.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第6章 总结与展望 | 第48-50页 |
| 6.1 结论 | 第48页 |
| 6.2 展望 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-55页 |
| 附件 | 第55页 |
