| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究发展现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 现场总线发展概述 | 第9-10页 |
| 1.2.2 PROFIBUS的特点与发展现状 | 第10-11页 |
| 1.3 课题的主要工作 | 第11页 |
| 1.4 本文章节安排 | 第11-12页 |
| 2 总体方案设计 | 第12-19页 |
| 2.1 DP适配器需求分析 | 第12页 |
| 2.2 DP适配器技术指标 | 第12-13页 |
| 2.3 DP适配器硬件架构 | 第13-16页 |
| 2.3.1 适配器的硬件总体架构设计 | 第13页 |
| 2.3.2 嵌入式单片机选型 | 第13-15页 |
| 2.3.3 PROFIBUS-DP从站协议控制芯片选型 | 第15-16页 |
| 2.4 DP适配器软件架构 | 第16-18页 |
| 2.4.1 适配器的软件总体架构 | 第16-17页 |
| 2.4.2 嵌入式操作系统选型 | 第17-18页 |
| 2.5 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 PROFIBUS-DP协议 | 第19-27页 |
| 3.1 PROFIBUS-DP功能 | 第19页 |
| 3.2 PROFIBUS-DP设备类型和系统组态 | 第19-21页 |
| 3.2.1 PROFIBUS-DP设备类型 | 第19-20页 |
| 3.2.2 系统组态 | 第20-21页 |
| 3.3 PROFIBUS-DP通信 | 第21-26页 |
| 3.3.1 PROFIBUS-DP通信模式 | 第21-24页 |
| 3.3.2 PROFIBUS-DP主/从站通信任务 | 第24-25页 |
| 3.3.3 DP从站状态机 | 第25-26页 |
| 3.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 4 基于嵌入式单片机的适配器硬件设计 | 第27-38页 |
| 4.1 硬件整体设计 | 第27页 |
| 4.2 电源电路 | 第27-28页 |
| 4.3 指示灯 | 第28-29页 |
| 4.4 复位电路 | 第29-30页 |
| 4.5 地址选择开关 | 第30-31页 |
| 4.6 PROFIBUS-DP总线接口 | 第31-35页 |
| 4.6.1 VPC3+C电路 | 第31-32页 |
| 4.6.2 晶振电路 | 第32页 |
| 4.6.3 磁藕隔离 | 第32-35页 |
| 4.7 主-从单片机通信 | 第35-36页 |
| 4.8 Modbus现场总线接口 | 第36-37页 |
| 4.9 本章小结 | 第37-38页 |
| 5 基于uCos-Ⅲ的嵌入式软件设计 | 第38-59页 |
| 5.1 软件整体设计 | 第38-39页 |
| 5.2 uCos-Ⅲ操作系统移植 | 第39-41页 |
| 5.2.1 官方库代码编译 | 第40页 |
| 5.2.2 时基相关修改 | 第40页 |
| 5.2.3 官方库代码裁剪 | 第40-41页 |
| 5.2.4 操作系统移植测试 | 第41页 |
| 5.3 GSD文件 | 第41-43页 |
| 5.4 嵌入式驱动部分 | 第43-52页 |
| 5.4.1 VPC3+C驱动 | 第43-47页 |
| 5.4.2 代码升级驱动 | 第47-49页 |
| 5.4.3 从单片机通信驱动 | 第49-52页 |
| 5.5 业务软件 | 第52-58页 |
| 5.5.1 与PLC交互任务 | 第52-53页 |
| 5.5.2 从站交互任务 | 第53-55页 |
| 5.5.3 自处理任务 | 第55-58页 |
| 5.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 6 系统测试 | 第59-68页 |
| 6.1 测试环境构建 | 第59-63页 |
| 6.1.1 测试系统组成 | 第59页 |
| 6.1.2 STEP7软件 | 第59-63页 |
| 6.2 测试方案 | 第63页 |
| 6.2.1 通信测试方案 | 第63页 |
| 6.2.2 扫描周期测试方案 | 第63页 |
| 6.2.3 升级测试方案 | 第63页 |
| 6.2.4 异常测试 | 第63页 |
| 6.3 系统测试 | 第63-67页 |
| 6.3.1 通信测试 | 第63-65页 |
| 6.3.2 扫描周期测试 | 第65-66页 |
| 6.3.3 升级测试 | 第66页 |
| 6.3.4 异常测试 | 第66-67页 |
| 6.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 7 总结与展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-71页 |