| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-32页 |
| 1.1 层状化合物的结构特点 | 第10-12页 |
| 1.2 本征低热导材料的研究进展 | 第12-22页 |
| 1.2.1 材料的热导率 | 第12-16页 |
| 1.2.1.1 晶格热导率 | 第12-15页 |
| 1.2.1.2 载流子热导率 | 第15-16页 |
| 1.2.2 几类重要的本征低晶格热导材料 | 第16-22页 |
| 1.2.2.1 含孤对电子的低晶格热导材料 | 第16-19页 |
| 1.2.2.2 声子玻璃类的低晶格热导材料 | 第19-21页 |
| 1.2.2.3 声子液体类的低晶格热导材料 | 第21-22页 |
| 1.3 层状超导材料的研究进展 | 第22-30页 |
| 1.3.1 超导材料的发展进程 | 第22-24页 |
| 1.3.2 层状超导材料的调控方法 | 第24-27页 |
| 1.3.3 层状Sn基化合物超导性质的研究 | 第27页 |
| 1.3.4 层状SrAlSi超导体的研究 | 第27-30页 |
| 1.4 本论文的选题依据及主要研究内容 | 第30-32页 |
| 第二章 实验方法和原理 | 第32-40页 |
| 2.1 样品制备 | 第32-33页 |
| 2.1.1 高温固相合成法 | 第32页 |
| 2.1.2 自助熔剂法 | 第32-33页 |
| 2.1.3 放电等离子体烧结法(SPS) | 第33页 |
| 2.2 样品的表征手段 | 第33-40页 |
| 2.2.1 X射线粉晶衍射 | 第33-35页 |
| 2.2.2 Rietveld精修方法 | 第35-36页 |
| 2.2.3 扫描电镜(SEM) | 第36-37页 |
| 2.2.4 综合物性测量系统(PPMS) | 第37-38页 |
| 2.2.5 热导率测试仪 | 第38-39页 |
| 2.2.6 第一性原理计算 | 第39-40页 |
| 第三章 NaSnAs,NaSnP和NaSn_2As_2低热导性质的研究 | 第40-60页 |
| 3.1 引言 | 第40-41页 |
| 3.2 样品的制备 | 第41页 |
| 3.3 NaSnAs, NaSnP和NaSn_2As_2的晶体结构 | 第41-44页 |
| 3.4 NaSnAs, NaSnP和NaSn_2As_2的物性 | 第44-51页 |
| 3.5 低晶格热导率性质的物理机制探索 | 第51-58页 |
| 3.6 本章小结 | 第58-60页 |
| 第四章 新化合物Li_(1.67)Sn_(0.33)As的结构与热导性质 | 第60-76页 |
| 4.1 引言 | 第60-61页 |
| 4.2 样品的制备 | 第61页 |
| 4.3 Li_(1.67)Sn_(0.33)As和Li_(1.76)Sn_(0.24)As的晶体结构 | 第61-68页 |
| 4.4 Li_(1.67)Sn_(0.33)As和Li_(1.76)Sn_(0.24)As的物性 | 第68-74页 |
| 4.5 本章小结 | 第74-76页 |
| 第五章 NaSn_2As_2的掺杂及物性研究 | 第76-90页 |
| 5.1 引言 | 第76-77页 |
| 5.2 样品的制备 | 第77页 |
| 5.3 NaSn_2As_(2-x)P_x的晶体结构与物性 | 第77-83页 |
| 5.4 Na_(1-x)Sr_xSn_2As_2的晶体结构与物性 | 第83-86页 |
| 5.5 SrSn_2As2狄拉克半金属性质的探索 | 第86-88页 |
| 5.6 本章小结 | 第88-90页 |
| 第六章 V和Cr掺杂对SrAlSi超导体物性的影响 | 第90-104页 |
| 6.1 引言 | 第90页 |
| 6.2 样品的制备 | 第90-91页 |
| 6.3 SrAl_(1-x)V_xSi和SrAl_(1-x)Cr_xSi的晶体结构 | 第91-98页 |
| 6.4 SrAl_(1-x)V_xSi和SrAl_(1-x)Cr_xSi的物性 | 第98-102页 |
| 6.5 本章小结 | 第102-104页 |
| 第七章 结论与展望 | 第104-106页 |
| 参考文献 | 第106-118页 |
| 个人简历及发表文章目录 | 第118-120页 |
| 致谢 | 第120-122页 |
