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通过磁控溅射ZnO:Al薄膜中的缺陷调控薄膜的光学和电学性能及相关物理机制的研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-9页
第一章 绪论第13-39页
    1.1 引言第13-14页
    1.2 ZnO的基本性质第14-15页
    1.3 ZnO中的缺陷第15-28页
        1.3.1 本征缺陷第15-24页
            1.3.1.1 锌填隙(Zn_i)第15-17页
            1.3.1.2 氧填隙(O_i)第17-19页
            1.3.1.3 锌空位(V_(Zn))第19-20页
            1.3.1.4 氧空位(V_o)第20-23页
            1.3.1.5 反位Zn(Zn_o)第23页
            1.3.1.6 反位O(O_(Zn))第23-24页
        1.3.2 与H有关的缺陷第24-27页
            1.3.2.1 H填隙(H_i)第24-25页
            1.3.2.2 H占据V_o(H_o)第25-26页
            1.3.2.3 双原子H(H_2~*)第26-27页
        1.3.3 掺杂引入的缺陷(n型,p型掺杂)第27-28页
            1.3.3.1 Al掺杂ZnO(ZnO:Al,AZO)第27页
            1.3.3.2 N掺杂ZnO(ZnO:N)第27-28页
    1.4 ZnO:Al(AZO)薄膜的应用第28-29页
        1.4.1 薄膜太阳能电池(Thin film solar cells)第28页
        1.4.2 发光二极管(Light emitting diodes)第28-29页
        1.4.3 节能玻璃(Energy-saving glass)第29页
    1.5 AZO薄膜的制备方法第29-33页
        1.5.1 热喷涂分解(Spray pyrolysis)第30页
        1.5.2 化学气相沉积(Chemical vapor deposition)第30-31页
        1.5.3 脉冲激光沉积(Pulsed laser deposition)第31-32页
        1.5.4 溶胶凝胶法(Sol-gel method)第32-33页
        1.5.5 磁控溅射(Magnetron sputtering)第33页
    1.6 本论文的研究内容第33-35页
    参考文献第35-39页
第二章 氢气退火对磁控溅射AZO薄膜中缺陷演化及性能的影响第39-57页
    2.1 引言第39-40页
    2.2 实验设计第40-41页
        2.2.1 初始AZO薄膜制备第40页
        2.2.2 氢气退火处理第40页
        2.2.3 薄膜性能表征第40-41页
    2.3 实验结果及讨论第41-53页
        2.3.1 薄膜微结构与成分分析第41-46页
        2.3.2 薄膜光学性能分析第46-49页
        2.3.3 薄膜的热学和电学分析第49-53页
    2.4 本章小结第53-54页
    参考文献第54-57页
第三章 通过对氧填隙的调控改善磁控溅射AZO薄膜中Al的有效掺杂第57-75页
    3.1 引言第57页
    3.2 实验设计第57-58页
        3.2.1 初始AZO薄膜的制备第57-58页
        3.2.2 氢气退火处理第58页
        3.2.3 薄膜性能表征第58页
    3.3 实验结果及讨论第58-72页
        3.3.1 不同氧气流速下制备的AZO薄膜退火后Al的掺杂效率比较第58-65页
        3.3.2 不同Ar流速下制备的AZO薄膜退火后Al的掺杂效率比较第65-72页
    3.4 本章小结第72-74页
    参考文献第74-75页
第四章 溅射过程中掺H对AZO薄膜光学和电学性能的影响第75-87页
    4.1 引言第75页
    4.2 实验设计第75-77页
        4.2.1 薄膜制备第75-76页
        4.2.2 薄膜性能表征第76-77页
    4.3 实验结果及讨论第77-84页
        4.3.1 溅射过程中掺H对溅射电压及膜厚的影响第77-78页
        4.3.2 溅射过程中掺H对薄膜结构及成分的影响第78-81页
        4.3.3 溅射过程中掺H对薄膜光学性能的影响第81-83页
        4.3.4 溅射过程中掺H对薄膜电学性能的影响第83-84页
    4.4 本章小结第84-86页
    参考文献第86-87页
第五章 磁控溅射制备p型Al-N共掺杂ZnO薄膜第87-101页
    5.1 引言第87-88页
    5.2 实验设计第88页
        5.2.1 薄膜制备第88页
        5.2.2 薄膜性能表征第88页
    5.3 实验结果及讨论第88-98页
        5.3.1 溅射时氧化区N2流速对Al-N共掺杂ZnO薄膜性能的影响第88-93页
        5.3.2 溅射时射频枪功率对Al-N共掺杂ZnO薄膜性能的影响第93-97页
        5.3.3 不同溅射参数下制备的Al-N共掺杂ZnO薄膜的导电特性第97-98页
    5.4 本章小结第98-99页
    参考文献第99-101页
第六章 总结与展望第101-103页
致谢第103-105页
博士在读期间发表的学术论文第105页

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