| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·国内外电接触理论的发展现状与趋势 | 第10-11页 |
| ·国内外寿命预测发展现状及趋势 | 第11-13页 |
| ·国内外检测系统的发展现状与趋势 | 第13-14页 |
| ·本课题的研究目的和研究内容 | 第14-17页 |
| 第2章 电接触原理及其失效分析 | 第17-28页 |
| ·电接触原理概述 | 第17-18页 |
| ·电接触机理 | 第18-22页 |
| ·接触电阻 | 第18-20页 |
| ·插拔力 | 第20-22页 |
| ·影响电插接件使用寿命的因素 | 第22-23页 |
| ·固有因素 | 第22页 |
| ·使用因素 | 第22-23页 |
| ·电接触的失效机理 | 第23-25页 |
| ·USB插接件测试方法研究 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 基于BP网络的USB插接件寿命预测的研究 | 第28-40页 |
| ·电插接件寿命预测方法的研究 | 第28-32页 |
| ·几种预测方法比较 | 第28-30页 |
| ·神经网络的可行性分析 | 第30-31页 |
| ·USB插接件寿命预测整体思路 | 第31-32页 |
| ·基于BP神经网络的USB插接件状态预测模型的结构设计 | 第32-34页 |
| ·训练样本的准备 | 第32-33页 |
| ·初始权值的设计 | 第33页 |
| ·多层网络结构设计 | 第33-34页 |
| ·基于BP神经网络的USB插接件状态预测模型的建立 | 第34-37页 |
| ·传递函数 | 第34-35页 |
| ·学习函数与训练函数 | 第35-36页 |
| ·性能评价函数 | 第36-37页 |
| ·USB插接件寿命预测的实现 | 第37-39页 |
| ·USB插接件状态预测模型的实现 | 第37页 |
| ·USB电插接寿命预测的实现 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 USB插接件检测系统的方案设计 | 第40-44页 |
| ·USB插接件检测系统的功能要求 | 第40-41页 |
| ·USB插接件检测系统整体架构 | 第41-42页 |
| ·USB插接件检测系统测试流程 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-44页 |
| 第5章 USB插接件检测系统的开发 | 第44-56页 |
| ·终端测试系统的硬件设计与实现 | 第44-49页 |
| ·检测系统硬件框架与工作流程 | 第44-45页 |
| ·检测系统硬件关键模块设计 | 第45-49页 |
| ·提高模拟信号采集精度的方法 | 第49-52页 |
| ·接地层和电源层 | 第49-50页 |
| ·低频和高频去耦设计 | 第50-51页 |
| ·数模转换芯片的处理 | 第51-52页 |
| ·终端测试系统的软件开发 | 第52-55页 |
| ·测试系统功能需求 | 第53页 |
| ·测试系统任务分配与描述 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第6章 实验与验证 | 第56-73页 |
| ·测试参数及测试标准 | 第56-57页 |
| ·USB插接件终端检测系统验证 | 第57-63页 |
| ·终端检测系统功能验证 | 第57-61页 |
| ·终端测试系统数据采集精度验证 | 第61-63页 |
| ·USB插接件的检测结果 | 第63-66页 |
| ·USB电插接寿命预测验证 | 第66-72页 |
| ·USB插接件状态预测模型验证 | 第66-69页 |
| ·USB插接件寿命预测验证 | 第69-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第7章 总结与展望 | 第73-75页 |
| ·课题总结 | 第73页 |
| ·课题展望 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 附：攻读硕士期间科研成果 | 第78页 |