RFID天线场强的测试与研究
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| ·RFID 技术的发展历史 | 第9-10页 |
| ·RFID 技术的应用现状 | 第10-11页 |
| ·RFID 技术的发展趋势 | 第11-12页 |
| ·课题的研究背景 | 第12-13页 |
| ·论文主要工作及组织结构 | 第13-15页 |
| 2 RFID 系统的工作原理 | 第15-25页 |
| ·RFID 系统及工作原理 | 第15-17页 |
| ·系统构成 | 第15-16页 |
| ·RFID 工作原理 | 第16-17页 |
| ·RFID 系统工作的物理学原理 | 第17-22页 |
| ·电磁场的基本关系 | 第17-18页 |
| ·天线及其辐射场 | 第18-19页 |
| ·电感耦合和电磁耦合原理 | 第19-20页 |
| ·数据传输原理 | 第20-22页 |
| ·RFID 测试技术分析 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 3 RFID 天线场强简易测试 | 第25-39页 |
| ·测试系统组成 | 第25-29页 |
| ·电磁辐射选频分析仪 | 第25-26页 |
| ·读写器结构 | 第26-28页 |
| ·测试线圈 | 第28-29页 |
| ·RFID 天线场强简易测试过程 | 第29-33页 |
| ·简易测试总体介绍 | 第29-30页 |
| ·简易测试过程 | 第30-33页 |
| ·测试结果分析 | 第33-38页 |
| ·读写器场强分布测试数据 | 第33-34页 |
| ·Matlab 仿真 | 第34-37页 |
| ·结果分析 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 4 RFID 天线场强三维扫描测试系统设计 | 第39-59页 |
| ·RFID 天线场强三维扫描测试系统介绍 | 第39-41页 |
| ·系统结构 | 第39-40页 |
| ·系统功能 | 第40页 |
| ·系统原理 | 第40-41页 |
| ·系统硬件设计 | 第41-54页 |
| ·解调电路设计 | 第41-42页 |
| ·单片机控制部分的设计 | 第42-48页 |
| ·DG409 外围电路设计 | 第48-51页 |
| ·LED 显示模块 | 第51-53页 |
| ·串口接口电路 | 第53-54页 |
| ·软件设计 | 第54-58页 |
| ·单片机控制软件设计 | 第54-56页 |
| ·上位机软件流程 | 第56-57页 |
| ·实验结果 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 5 结论 | 第59-61页 |
| ·研究成果 | 第59页 |
| ·展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 附录 | 第63-69页 |
| 作者简历 | 第69-71页 |
| 一. 基本情况 | 第69页 |
| 二. 研究项目 | 第69-71页 |
| 学位论文数据集 | 第71页 |
