基于ANSYS的漏磁信号特征有限元数值分析
致谢 | 第1-6页 |
中文摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-10页 |
1 绪论 | 第10-19页 |
·课题背景 | 第10-11页 |
·电磁无损检测技术 | 第11-15页 |
·电磁检测技术发展 | 第11-13页 |
·金属磁记忆法 | 第13-15页 |
·国内外研究现状及存在问题 | 第15-18页 |
·研究现状 | 第15-17页 |
·金属磁记忆检测法存在的问题 | 第17-18页 |
·研究方法和内容 | 第18-19页 |
2 漏磁信号的有限元数值计算和分析 | 第19-38页 |
·引言 | 第19页 |
·缺陷漏磁场的有限元分析基本理论 | 第19-21页 |
·模拟比较地球空间磁场 | 第21-24页 |
·ANSYS磁结构有限元分析漏磁特征 | 第24-30页 |
·三维模型的计算结果分析 | 第30-32页 |
·厚度因素影响 | 第32-37页 |
·整体厚度的影响 | 第32-35页 |
·局部缺陷厚度的影响 | 第35-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
3 缺陷形状对漏磁信号的影响 | 第38-48页 |
·引言 | 第38页 |
·算例分析 | 第38-40页 |
·缺陷埋深的影响 | 第40-42页 |
·缺陷深度的影响 | 第42-43页 |
·缺陷宽度的影响 | 第43-45页 |
·中心偏移量的影响 | 第45-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
4 基于漏磁信号特征的缺陷形状反演 | 第48-61页 |
·引言 | 第48页 |
·贯穿型缺陷的空间漏磁分布特征 | 第48-51页 |
·贯穿型矩形槽缺陷的漏磁特征分析 | 第51-53页 |
·圆形缺陷的漏磁特征分析 | 第53-56页 |
·菱形缺陷的漏磁特征分析 | 第56-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
5 结论与展望 | 第61-63页 |
·论文结论 | 第61页 |
·工作展望 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-66页 |
作者简介 | 第66-68页 |
学位论文数据集 | 第68页 |