| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-24页 |
| ·电荷耦合器件CCD 发展概述 | 第12-14页 |
| ·通用模拟前端技术概述及研究动态 | 第14-16页 |
| ·CCD 图像处理模拟前端技术与研究动态 | 第16-21页 |
| ·基本原理 | 第16-18页 |
| ·研究动态 | 第18-21页 |
| ·研究意义 | 第21-22页 |
| ·研究方案和论文的主要研究内容 | 第22-24页 |
| 第二章 CMOS 开关电容型抗混叠滤波器 | 第24-38页 |
| ·新型开关电容环路的基本组态 | 第25-27页 |
| ·五阶开关电容跳耦滤波器 | 第27-30页 |
| ·运算放大器结构设计与优化 | 第30-34页 |
| ·运放结构及工作机理 | 第31-33页 |
| ·两级运放共模反馈电路设计 | 第33-34页 |
| ·仿真测试与结果分析 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 高速低功耗轨至轨电压缓冲器设计 | 第38-54页 |
| ·两级运放的频率补偿机理 | 第39-51页 |
| ·Cascode Miller 补偿 | 第39-40页 |
| ·输出零点补偿 | 第40-42页 |
| ·本论文提出的运放结构 | 第42-51页 |
| ·轨至轨电压缓冲器的设计 | 第51页 |
| ·仿真结果分析 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 Pipeline ADC 系统架构与校正算法 | 第54-73页 |
| ·Pipeline ADC 架构优化设计 | 第55-63页 |
| ·比较器功耗优化 | 第57-58页 |
| ·ADC 各级采样电容与系统噪声的关系 | 第58-60页 |
| ·电容失配分析及系统架构确定 | 第60-63页 |
| ·自校正型MDAC 电路 | 第63-72页 |
| ·电容阵列型DAC 自校正技术 | 第64-70页 |
| ·用于MDAC 的自校正技术 | 第70-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 Pipeline ADC 关键单元电路设计 | 第73-92页 |
| ·12 位100MSPS 高性能采样保持电路 | 第73-80页 |
| ·实现高性能S/H 的关键组态及其原理 | 第73-78页 |
| ·高性能S/H 电路的技术方案 | 第78页 |
| ·S/H 电路的仿真结果与分析 | 第78-80页 |
| ·高精度带隙基准电压源的分析与设计 | 第80-91页 |
| ·12 位ADC 对带隙基准电压源精度的要求 | 第80-83页 |
| ·带隙基准电压源电路设计 | 第83-86页 |
| ·新型温度系数补偿方法 | 第86-88页 |
| ·基准电压源电路仿真与结果分析 | 第88-91页 |
| ·本章小结 | 第91-92页 |
| 第六章 系统仿真与验证 | 第92-97页 |
| ·模拟前端整体电路的版图实现 | 第92-93页 |
| ·系统后仿真结果 | 第93-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 第七章 结论和展望 | 第97-100页 |
| 致谢 | 第100-101页 |
| 参考文献 | 第101-112页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第112-114页 |
| 个人简历 | 第112页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第112-114页 |