二氧化锡光学、气敏和磁学性质的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·SnO_2的制备技术发展现状 | 第11-12页 |
| ·水热沉淀法 | 第11页 |
| ·水热合成法 | 第11-12页 |
| ·溶胶-凝胶法 | 第12页 |
| ·气体传感器的气敏机理 | 第12-14页 |
| ·磁性及稀磁半导体磁性来源分析 | 第14-17页 |
| ·稀磁半导体的磁性机理 | 第15页 |
| ·SnO_2基DMS的发展过程 | 第15-17页 |
| 第二章 二氧化锡的制备 | 第17-28页 |
| ·实验对锡源的选取 | 第17-19页 |
| ·水热法 | 第19-21页 |
| ·发展历史 | 第19页 |
| ·水热法特点 | 第19页 |
| ·水热釜简介 | 第19-20页 |
| ·水热法样品制取流程 | 第20-21页 |
| ·溶胶-凝胶法 | 第21-24页 |
| ·成分简介 | 第21-22页 |
| ·发展历史 | 第22页 |
| ·化学过程 | 第22-23页 |
| ·方法优缺点 | 第23页 |
| ·溶胶-凝胶法制取流程 | 第23-24页 |
| ·陈化凝胶 | 第24页 |
| ·凝胶的干燥 | 第24页 |
| ·镀膜方法的选择 | 第24-26页 |
| ·溶胶-凝胶法制备二氧化锡薄膜流程 | 第25-26页 |
| ·薄膜的退火处理 | 第26页 |
| ·两种方法的比较 | 第26-28页 |
| 第三章 样品的表征 | 第28-40页 |
| ·几种仪器简介 | 第28-31页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第28-29页 |
| ·能谱分析(XPS) | 第29页 |
| ·紫外—可见光分光度计 | 第29-31页 |
| ·SnO_2纳米颗粒的XPS分析 | 第31-33页 |
| ·XRD晶相结构检测 | 第33-36页 |
| ·退火对样品的光学性质影响 | 第36-40页 |
| 第四章 气敏性研究 | 第40-49页 |
| ·气敏传感器的主要工作数据指标 | 第40-41页 |
| ·工作温度 | 第40页 |
| ·元件电阻 | 第40页 |
| ·灵敏度 | 第40-41页 |
| ·气体选择性 | 第41页 |
| ·响应恢复时间 | 第41页 |
| ·元件稳定工作寿命 | 第41页 |
| ·测定SnO_2纳米片的最佳气敏工作温度 | 第41-42页 |
| ·电阻测试 | 第42-43页 |
| ·SnO_2对不同浓度无水乙醇的灵敏度的测试 | 第43-44页 |
| ·响应时间测试 | 第44-46页 |
| ·选择性测试 | 第46-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 磁性的测量和探究 | 第49-53页 |
| ·退火温度对磁化强度的影响 | 第49-50页 |
| ·掺杂Mg对磁化强度的影响 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第六章 总结 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第60页 |
