类TCAM的数据网络查找协处理器芯片的可测性设计研究与优化

中文摘要	第1-5页
Abstract	第5-9页
第一章 绪论	第9-13页
·可测性设计的背景和意义	第9-10页
·网络数据查找协处理器及其发展前景	第10-11页
·协处理器芯片可测性设计的挑战	第11页
·本课题的研究工作与创新点	第11-13页
第二章 专用集成电路的可测性设计方法概论	第13-23页
·测试的基本概念	第13-14页
·可测性设计的常用方法	第14-22页
·专用可测性设计法	第14-15页
·扫描设计	第15-18页
·内建自测试	第18-20页
·边界扫描测试	第20-22页
·本章小结	第22-23页
第三章 协处理器芯片全扫描设计	第23-41页
·扫描单元基本结构	第23-24页
·扫描方案的选择	第24-25页
·芯片内部层次化扫描思想	第25-27页
·扫描链架构策略与构建	第27-30页
·扫描插入与测试向量生成	第30-39页
·扫描测试的简易低功耗设计	第39-40页
·本章小结	第40-41页
第四章 全扫描技术的改进策略研究与实现	第41-51页
·芯片测试故障诊断与分析	第41-42页
·一种全新故障定位方法与实现	第42-47页
·模拟故障仿真与验证	第47-49页
·Efuse修复	第49-50页
·本章小结	第50-51页
第五章 总结与展望	第51-53页
·总结	第51页
·展望	第51-53页
参考文献	第53-56页
攻读学位期间发表的论文	第56-57页
致谢	第57页