特征描述方法在软件缺陷预测中的应用研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-17页 |
| ·软件缺陷概述 | 第8-13页 |
| ·软件缺陷概念 | 第8页 |
| ·软件缺陷来源 | 第8-10页 |
| ·软件缺陷分类 | 第10-12页 |
| ·软件缺陷分析和预测的意义 | 第12-13页 |
| ·软件缺陷预测方法 | 第13-15页 |
| ·论文的结构 | 第15-17页 |
| 2 分类技术在软件缺陷预测中的应用 | 第17-23页 |
| ·软件度量 | 第17-20页 |
| ·源代码行度量 | 第18页 |
| ·Halstead 度量 | 第18页 |
| ·McCabe 度量 | 第18-19页 |
| ·其他度量 | 第19-20页 |
| ·研究现状 | 第20-22页 |
| ·特征描述方法 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 3 基于相异空间特征描述的软件缺陷预测 | 第23-35页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·软件缺陷预测与相异空间 | 第23-24页 |
| ·软件缺陷预测数学描述 | 第23-24页 |
| ·相异空间特征描述 | 第24页 |
| ·预测模型 | 第24-28页 |
| ·代表集选择 | 第25-26页 |
| ·度量标准选择 | 第26页 |
| ·类区分度 | 第26-28页 |
| ·实验 | 第28-34页 |
| ·实验说明 | 第28-30页 |
| ·实验一 | 第30-31页 |
| ·实验二 | 第31-34页 |
| ·实验三 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 4 基于分类特征描述的软件缺陷预测 | 第35-47页 |
| ·引言 | 第35-36页 |
| ·分类特征预测模型 | 第36页 |
| ·分类特征描述 | 第36-38页 |
| ·特征分类算法 | 第38-41页 |
| ·均值准则 | 第38-39页 |
| ·最小错误率准则 | 第39-41页 |
| ·实验 | 第41-45页 |
| ·实验一 | 第41-44页 |
| ·实验二 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 5 基于集成特征描述的软件缺陷预测 | 第47-57页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·特征集成相关研究 | 第47-48页 |
| ·特征集成框架 | 第48-51页 |
| ·同一类型内 LS-SVM 核特征集成 | 第49页 |
| ·不同类型间 Boosting 加权集成 | 第49-51页 |
| ·实验 | 第51-56页 |
| ·实验一 | 第51-53页 |
| ·实验二 | 第53-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 6 总结与展望 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 附录 | 第63页 |
| A 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第63页 |
