真随机数发生器集成电路设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题背景及意义 | 第10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·本文研究的内容 | 第12-14页 |
| 第2章 随机数基本概念及常见随机数发生器介绍 | 第14-25页 |
| ·关于随机数的基本概念 | 第14-15页 |
| ·随机性 | 第14页 |
| ·不可预测性 | 第14页 |
| ·随机序列的分类 | 第14-15页 |
| ·随机序列的主要衡量指标 | 第15页 |
| ·常用的随机数发生器分类 | 第15页 |
| ·常用伪随机数发生器结构和原理 | 第15-18页 |
| ·线性反馈移位寄存器 | 第16-17页 |
| ·Von Neumann平方取中法 | 第17页 |
| ·线性同余发生器 | 第17-18页 |
| ·常用真随机数发生器结构和原理 | 第18-24页 |
| ·随机噪声源直接放大法 | 第19-20页 |
| ·基于振荡器的随机数发生器 | 第20-22页 |
| ·基于亚稳态的随机数发生器 | 第22-23页 |
| ·基于离散时间混沌法的随机数发生器 | 第23-24页 |
| ·常用随机数发生器的不足 | 第24-25页 |
| 第3章 真随机数发生器的总体结构以及振荡器设计 | 第25-45页 |
| ·真随机数发生器的设计方案简介 | 第25页 |
| ·快速时钟振荡器 | 第25-27页 |
| ·慢速抖动振荡器的设计 | 第27-37页 |
| ·带隙基准 | 第27-31页 |
| ·施密特触发器设计 | 第31-33页 |
| ·跨导放大器设计 | 第33-34页 |
| ·低频振荡器性能分析 | 第34-36页 |
| ·慢速抖动振荡器的仿真与验证 | 第36-37页 |
| ·纠偏模块 | 第37-39页 |
| ·冯.诺依曼校正器 | 第37-38页 |
| ·异或链 | 第38-39页 |
| ·扰频模块 | 第39-40页 |
| ·异步FIFO | 第40-45页 |
| ·异步FIFO结构 | 第40页 |
| ·存储器模块设计 | 第40-41页 |
| ·控制模块的设计 | 第41-43页 |
| ·异步FIFO读写仿真 | 第43-45页 |
| 第4章 随机数发生器在集成电路上的总体设计 | 第45-70页 |
| ·集成电路的设计流程 | 第45-46页 |
| ·集成电路的常见设计方法 | 第46-47页 |
| ·真随机数发生器的总体的设计 | 第47-48页 |
| ·模拟部分的全定制实现 | 第48-50页 |
| ·数字部分的半定制设计 | 第50-55页 |
| ·半定制的流程 | 第50页 |
| ·模块的要求 | 第50-51页 |
| ·模块顶层的硬件语言描述 | 第51-52页 |
| ·NanoSim+VCS混合模拟仿真 | 第52-54页 |
| ·网表综合 | 第54-55页 |
| ·芯片布局布线 | 第55-62页 |
| ·数据准备 | 第56-57页 |
| ·布局规划 | 第57-59页 |
| ·布置与优化 | 第59页 |
| ·时钟树综合 | 第59-60页 |
| ·布线 | 第60页 |
| ·Chip Finishing | 第60-62页 |
| ·芯片防拆设计 | 第62-66页 |
| ·防拆网络设计 | 第63-64页 |
| ·防拆自动脚本 | 第64-66页 |
| ·物理验证 | 第66-70页 |
| ·设计规则检查 | 第66-68页 |
| ·电路版图对照检查 | 第68-70页 |
| 第5章 真随机数发生器实测 | 第70-78页 |
| ·随机数发生器测试方案 | 第70-72页 |
| ·随机数发生器测试电路 | 第70-71页 |
| ·随机数发生器测试程序 | 第71-72页 |
| ·随机数序列的测试标准 | 第72-76页 |
| ·衡量随机数序列性能的指标 | 第72页 |
| ·SP800-22测试项目 | 第72-73页 |
| ·SP800-22测试原理 | 第73-74页 |
| ·SP800-22使用流程 | 第74-76页 |
| ·测试结果分析 | 第76-78页 |
| 总结与展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文 | 第83-84页 |
| 附录B 防拆电路脚本 | 第84-87页 |
| 附录C 芯片测试电路的通信和电源部分原理图 | 第87页 |
