| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·研究背景和意义 | 第7-8页 |
| ·信息隐藏的概念 | 第8-9页 |
| ·数字水印技术 | 第9-13页 |
| ·数字水印的概念 | 第9-10页 |
| ·数字水印的分类和特性 | 第10-11页 |
| ·数字水印的可能攻击分类 | 第11页 |
| ·数字水印的商业应用实例 | 第11-12页 |
| ·数字水印的评价标准 | 第12-13页 |
| ·本文工作安排 | 第13-15页 |
| 第二章 数字水印的几何攻击及其对策 | 第15-27页 |
| ·几何攻击 | 第15-20页 |
| ·全局几何攻击 | 第15-19页 |
| ·局部几何攻击 | 第19-20页 |
| ·几何攻击对水印的影响及其常用对策 | 第20-27页 |
| ·几何攻击对数字水印系统的影响 | 第20-21页 |
| ·常见抗几何攻击水印解决方案 | 第21-27页 |
| 第三章 基于归一化理论的抗几何攻击水印算法 | 第27-39页 |
| ·图像归一化理论 | 第27-30页 |
| ·几何矩和中心距 | 第27-28页 |
| ·图像归一化 | 第28-30页 |
| ·水印嵌入和检测 | 第30-35页 |
| ·嵌入区域的确定 | 第30-31页 |
| ·水印预处理 | 第31-33页 |
| ·DC T 变换 | 第33页 |
| ·水印的嵌入和检测 | 第33-35页 |
| ·实验结果分析 | 第35-39页 |
| ·评价标准 | 第35页 |
| ·实验结果 | 第35-39页 |
| 第四章 基于 SI FT 特征的抗几何攻击水印方案 | 第39-57页 |
| ·SIFT 理论 | 第39-46页 |
| ·SIFT 原理 | 第39-44页 |
| ·利用 SIFT 特征校正 | 第44-46页 |
| ·水印的嵌入和检测 | 第46-50页 |
| ·水印的嵌入方案一 | 第47页 |
| ·水印的嵌入方案二 | 第47-50页 |
| ·实验结果分析 | 第50-57页 |
| ·嵌入方案一的几何攻击实验 | 第50-51页 |
| ·嵌入方案二的几何攻击实验 | 第51-52页 |
| ·其它信号处理攻击实验 | 第52-55页 |
| ·打印扫描攻击实验 | 第55-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| ·总结 | 第57页 |
| ·展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |