异步时序电路测试生成研究
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第一章 数字电路测试生成方法研究现状 | 第11-31页 |
| ·故障模型 | 第12-15页 |
| ·固定型故障 | 第12-14页 |
| ·路径延迟故障模型 | 第14-15页 |
| ·转换故障模型 | 第15页 |
| ·测试生成 | 第15-31页 |
| ·组合电路测试生成方法 | 第16-21页 |
| ·时序电路测试生成方法 | 第21-29页 |
| ·小结 | 第29-31页 |
| 第二章 异步时序电路测试生成研究现状 | 第31-37页 |
| ·异步时序电路分析模型 | 第32页 |
| ·异步时序电路测试生成方法 | 第32-33页 |
| ·论文内容安排 | 第33-37页 |
| 第三章 布尔满足方法介绍 | 第37-47页 |
| ·几个相关的基本问题 | 第37-39页 |
| ·有向图的构造 | 第37-38页 |
| ·强相连元件 | 第38-39页 |
| ·赋值与满足 | 第39页 |
| ·基本门的CNF 表达式 | 第39-40页 |
| ·公式的满足 | 第40-44页 |
| ·用25AT 解决SAT 问题 | 第40-41页 |
| ·整个25AT 约束的迭代过程 | 第41-44页 |
| ·小结 | 第44-47页 |
| 第四章 异步时序电路的稳定状态求解算法 | 第47-65页 |
| ·求稳定状态表的一种代数方法 | 第48-51页 |
| ·稳定状态表的另一种推导方法――布尔满足方法 | 第51页 |
| ·布尔满足算法的改进与实现 | 第51-63页 |
| ·基本概念 | 第51-52页 |
| ·SAT 算法搜索过程 | 第52-53页 |
| ·SAT 算法加速策略 | 第53-63页 |
| ·试验结果 | 第63-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 第五章 基于布尔满足的异步时序电路测试生成 | 第65-87页 |
| ·概述 | 第65-67页 |
| ·基于布尔满足的异步时序电路的测试生成 | 第67-81页 |
| ·测试生成的加速 | 第81-86页 |
| ·敏化路径的选择 | 第81-82页 |
| ·扇出源和扇出分支的编号策略 | 第82-83页 |
| ·故障的分组与合并 | 第83-85页 |
| ·系统构成 | 第85-86页 |
| ·试验结果 | 第86页 |
| ·小结 | 第86-87页 |
| 第六章 结束语 | 第87-89页 |
| ·本文主要贡献与创新 | 第87-88页 |
| ·下一步研究工作 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-99页 |
| 【作者简历】 | 第99页 |
