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高分辨弹性反冲探测分析(ERDA)技术

中文摘要第1-6页
英文摘要第6-7页
第一章: 简介第7-9页
 1.1 核分析技术简介第7页
 1.2 ERD分析技术第7-9页
第二章: 实验原理与方法第9-15页
 2.1 弹性反冲探测分析原理第10页
 2.2 多层分析第10-14页
 2.3 用Q3D做高分辨ERD分析实验原理第14-15页
第三章: 实验设备第15-31页
 3.1 ΔE—E电离室望远镜第15-25页
  3.1.1 ΔE—E望远镜的鉴别原理第16-17页
  3.1.2 ΔE—E望远镜的结构第17-20页
  3.1.3 纵向型ΔE—E望远镜的制作第20-25页
 3.2 北京Q3D磁谱仪简介第25-26页
 3.3 轻、重离子焦面探测器第26-28页
 3.4 位置灵敏半导体探测器第28-29页
 3.5 HI-13串列静电加速器介绍第29-31页
第四章: 实验步骤第31-35页
 4.1 用Q3D进行高分辨ERD测量实验第31-33页
 4.2 用位置灵敏半导体进行ERD测量实验装置第33-34页
 4.3 电子学和数据获取系统第34-35页
第五章: 数据分析与处理第35-47页
 5.1 能量刻度第35-37页
  5.1.1 ΔAE—E望远镜的能量刻度方法一:第35-36页
  5.1.2 ΔAE—E望远镜的能量刻度方法二:第36-37页
  5.1.3 Q3D磁谱仪能量刻度:第37页
 5.2 能谱转化成深度谱处理过程:第37-38页
 5.3 Q3D磁谱仪ERD分析结果第38-41页
  5.3.1 C/LiF多层靶的ERD分析第38-39页
  5.3.2 氢元素的ERD分析第39-40页
  5.3.3 GaN中的杂质测量第40-41页
 5.4 位置灵敏探测器ERD分析结果第41-42页
 5.5 用纵向性DE-E探测器进行ERD分析结果第42-43页
 5.6 讨论第43-47页
  5.6.1 质量分辨和Z分辨第43-44页
  5.6.2 灵敏性第44-45页
  5.6.3 深度分辨率第45页
  5.6.4 改进和发展第45-47页
第六章: 结论第47页
参考文献第47-48页
致谢第48页

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