500kV串补保护测试方法的设计与实现
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 引言 | 第11-12页 |
| 1 绪论 | 第12-22页 |
| ·串补技术 | 第12-18页 |
| ·串补技术的背景与原理 | 第12-13页 |
| ·串补技术的发展与应用 | 第13-15页 |
| ·串补装置的分类及特点 | 第15-18页 |
| ·串补保护 | 第18-19页 |
| ·继电保护测试技术及测试仪器 | 第19-20页 |
| ·本课题的研究内容及主要任务 | 第20-22页 |
| ·课题背景和意义 | 第20-21页 |
| ·课题研究期间的任务 | 第21-22页 |
| 2 串补保护装置分类与描述 | 第22-30页 |
| ·串补保护装置的功能与分类 | 第22-28页 |
| ·串联补偿电容器对保护功能的要求 | 第23-25页 |
| ·MOV对保护功能的要求 | 第25-26页 |
| ·放电间隙GAP对保护功能的要求 | 第26-27页 |
| ·平台故障保护 | 第27页 |
| ·旁路断路器保护 | 第27-28页 |
| ·串补保护的特殊性 | 第28页 |
| ·本章小结 | 第28-30页 |
| 3 测试方法的研究与确定 | 第30-44页 |
| ·常规测试手段的局限性 | 第30页 |
| ·串补保护测试中存在的难点及解决方案 | 第30-31页 |
| ·串补电容器保护测试方法 | 第31-32页 |
| ·电容器过负荷保护 | 第31-32页 |
| ·电容器不平衡保护 | 第32页 |
| ·MOV保护测试方法 | 第32-40页 |
| ·MOV瞬时高电流保护 | 第32-33页 |
| ·MOV温升高(低)梯度保护 | 第33页 |
| ·MOV高温度保护 | 第33-34页 |
| ·MOV温度保护测试算法原理 | 第34-40页 |
| ·放电间隙(GAP)保护测试方法 | 第40-41页 |
| ·GAP自触发保护 | 第40页 |
| ·GAP延时触发保护 | 第40-41页 |
| ·GAP拒触发保护 | 第41页 |
| ·平台保护测试方法(平台闪络保护) | 第41页 |
| ·断路器保护测试方法 | 第41-42页 |
| ·断路器合闸失灵保护 | 第42页 |
| ·断路器分闸失灵保护 | 第42页 |
| ·断路器三相不一致保护 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-44页 |
| 4 串补保护测试方案的实现 | 第44-64页 |
| ·串补保护测试装置的现场要求 | 第44-45页 |
| ·对硬件电路的技术要求 | 第45-48页 |
| ·自动测试软件原理 | 第48-53页 |
| ·测试系统的结构 | 第49页 |
| ·继电保护自动测试的特点 | 第49-50页 |
| ·继电保护测试软件中的三层体系结构 | 第50-51页 |
| ·COM技术的应用 | 第51-53页 |
| ·测试逻辑与软件编写 | 第53-62页 |
| ·MOV保护试验 | 第53-56页 |
| ·串补电容器保护试验 | 第56-58页 |
| ·间隙保护试验 | 第58-61页 |
| ·其它保护试验方法 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 5 装置现场使用情况 | 第64-84页 |
| ·串补保护测试报告 | 第64-82页 |
| ·本章小结 | 第82-84页 |
| 6 总结 | 第84-86页 |
| ·通过本项目研究获得下述成果 | 第84-85页 |
| ·本项目存在问题和下一步要做的工作 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-88页 |
| 作者简历 | 第88-91页 |
| 学位论文数据集 | 第91页 |
