| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-19页 |
| ·研究背景 | 第12-13页 |
| ·电压测试技术 | 第13-14页 |
| ·电流测试技术 | 第14-17页 |
| ·稳态电流测试技术 | 第14-15页 |
| ·瞬态电流测试技术 | 第15-16页 |
| ·全速电流测试 | 第16-17页 |
| ·本文所做工作 | 第17-19页 |
| ·基于I_(DDT)测试的时延故障测试产生算法 | 第17页 |
| ·瞬态电流测试的实验研究 | 第17-18页 |
| ·基于自反馈的测试向量产生方法 | 第18-19页 |
| 第2章 数字电路测试的基本理论 | 第19-29页 |
| ·测试基础 | 第19-21页 |
| ·测试产生 | 第19-20页 |
| ·故障模拟 | 第20-21页 |
| ·故障模型 | 第21-25页 |
| ·固定故障模型 | 第21-22页 |
| ·开路故障模型 | 第22-24页 |
| ·时延故障模型 | 第24-25页 |
| ·测试产生算法 | 第25-27页 |
| ·波形模拟器 | 第27页 |
| ·PSPICE模拟软件介绍 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于与I_(DDT)测试的时延故障测试产生算法 | 第29-43页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·相关知识 | 第29-32页 |
| ·时延故障测试方法 | 第30-31页 |
| ·选择测试向量的标准 | 第31-32页 |
| ·测试产生算法 | 第32-36页 |
| ·实验结果及分析 | 第36-42页 |
| ·模拟实验 | 第36-40页 |
| ·实验结果及分析 | 第40-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 第4章 瞬态电流测试实验研究 | 第43-54页 |
| ·概述 | 第43页 |
| ·实验对象 | 第43-46页 |
| ·实验方案 | 第46-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第5章 基于自反馈的测试向量产生方法 | 第54-59页 |
| ·引言 | 第54-55页 |
| ·自反馈方法 | 第55-58页 |
| ·C17电路的自反馈 | 第55-56页 |
| ·一种寻找特定测试集中向量的策略 | 第56-57页 |
| ·实验结果及分析 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 结束语 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 附录 A 攻读硕士期间发表的论文 | 第65页 |