| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-15页 |
| ·软磁薄膜磁测量设备的发展概况及现状 | 第11-12页 |
| ·论文的研究意义及题目的提出 | 第12-13页 |
| ·论文的主要任务及内容安排 | 第13-15页 |
| 第二章 软磁薄膜 M-H 曲线测试原理及测试仪的总体方案设计 | 第15-25页 |
| ·软磁薄膜 M-H 曲线测试原理 | 第15-19页 |
| ·开启磁路试样的磁化 | 第15-16页 |
| ·软磁薄膜M-H 曲线测试原理 | 第16-19页 |
| ·测试仪的系统设计思想和方案 | 第19-25页 |
| ·测试仪的设计思想 | 第19-20页 |
| ·测试仪的总体方案 | 第20-25页 |
| 第三章 软磁薄膜 M-H 曲线测试仪硬件设计 | 第25-52页 |
| ·CPU 主控模块的设计 | 第25-30页 |
| ·A/D 转换电路设计 | 第26-28页 |
| ·串口通讯设计 | 第28-29页 |
| ·复位电路设计 | 第29-30页 |
| ·磁化强度及磁场强度信号检测模块的设计 | 第30-39页 |
| ·磁化强度信号检测线圈的设计 | 第30-32页 |
| ·磁场强度信号检测—霍尔传感器电路设计 | 第32-37页 |
| ·M 及H 通道系统误差消除电路设计 | 第37-39页 |
| ·励磁信号发生模块的设计 | 第39-46页 |
| ·螺线管的设计 | 第40-43页 |
| ·螺线管驱动电源的设计 | 第43-45页 |
| ·螺线管磁化电流显示电路设计 | 第45-46页 |
| ·样品自动加载模块的设计 | 第46-48页 |
| ·测试仪的硬件抗干扰设计 | 第48-52页 |
| ·地线设计 | 第49页 |
| ·电源线的设计 | 第49-50页 |
| ·配置去耦电容方法 | 第50页 |
| ·信号线的布线原则 | 第50-52页 |
| 第四章 软磁薄膜 M-H 曲线测试仪软件设计 | 第52-76页 |
| ·软件开发平台和工具 | 第52-55页 |
| ·LabVIEW 7.0 虚拟仪器开发平台 | 第52-53页 |
| ·Keil μVisi0112 单片机软件开发平台 | 第53-55页 |
| ·主从机之间的通信协议 | 第55-56页 |
| ·通信传输约定 | 第55页 |
| ·命令字列表 | 第55-56页 |
| ·测试仪主机程序设计 | 第56-69页 |
| ·测试仪主机界面设计 | 第56-57页 |
| ·测试仪主机程序组织结构 | 第57-69页 |
| ·初始化代码 | 第58-59页 |
| ·用户界面操作响应 | 第59-68页 |
| ·控制程序退出代码 | 第68-69页 |
| ·测试仪单片机软件设计 | 第69-76页 |
| ·测试仪单片机主程序设计 | 第69-70页 |
| ·测试仪中断子函数设计 | 第70-72页 |
| ·测试仪典型子函数设计 | 第72-76页 |
| 第五章 测试仪性能测试实验 | 第76-82页 |
| ·磁化强度定标 | 第76-78页 |
| ·与VSM 测试结果的对比 | 第78-80页 |
| ·磁化强度测试范围的测试 | 第80-81页 |
| ·磁场分辨率的测试 | 第81-82页 |
| 第六章 总结 | 第82-84页 |
| ·研究总结 | 第82-83页 |
| ·测试仪还存在的问题及改进方法 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
| 附录 A 测试仪相关实物图 | 第87-90页 |
| 附录 B 测试仪测试结果报告 | 第90-91页 |
| 攻硕期间取得的成果 | 第91-92页 |