| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-27页 |
| ·脉冲功率技术研究的真空固体绝缘“瓶颈”问题 | 第13-15页 |
| ·Z-Pinch装置研制对真空固体绝缘研究提出的需求 | 第15-16页 |
| ·国内外在轴向分层绝缘堆领域的研究现状 | 第16-20页 |
| ·Z-Pinch装置中真空轴向绝缘堆的技术特点和关键技术 | 第20-22页 |
| ·论文的研究背景 | 第22-23页 |
| ·论文的主要工作及其研究特色 | 第23-25页 |
| ·论文的创新点 | 第25-27页 |
| 第二章 标准45°真空固体绝缘界面研究 | 第27-49页 |
| ·介绍 | 第27-29页 |
| ·标准45°真空固体绝缘界面的定义与特点 | 第27页 |
| ·真空固体绝缘沿面闪络过程的通常描述 | 第27-29页 |
| ·影响标准45°真空固体绝缘界面耐压性能的重要参数 | 第29-36页 |
| ·不同电压类型的影响 | 第29页 |
| ·真空度的影响 | 第29-30页 |
| ·老练的影响 | 第30-31页 |
| ·预加压的影响 | 第31页 |
| ·绝缘体形状和倾角的影响 | 第31-33页 |
| ·材料的影响 | 第33-34页 |
| ·表面处理的影响 | 第34-35页 |
| ·其它因素的影响 | 第35-36页 |
| ·解释闪络过程的假说 | 第36-41页 |
| ·SEEA假说 | 第36-37页 |
| ·ETPR假说 | 第37-38页 |
| ·与SEEA和ETPR两种假说相关的实验现象 | 第38-39页 |
| ·阴极激发和阳极激发沿面闪络理论的平衡以及在实验现象上的宏观表现 | 第39-41页 |
| ·关于与45°绝缘体闪络过程相关的结论 | 第41页 |
| ·实验上的研究方法和结果 | 第41-47页 |
| ·关于真空固体绝缘沿面闪络的研究现状和存在的问题 | 第47-49页 |
| 第三章 真空轴向分层绝缘堆闪络概率分析的理论基础 | 第49-73页 |
| ·前言 | 第49页 |
| ·JCM闪络经验公式 | 第49-52页 |
| ·JCM经验公式的基本形式 | 第49-51页 |
| ·关于JCM经验公式的讨论 | 第51-52页 |
| ·统计学闪络经验公式 | 第52-57页 |
| ·统计学闪络经验公式的基本形式 | 第52-54页 |
| ·关于50%闪络场强和平均闪络场强 | 第54-56页 |
| ·沿面闪络形成时间的统计学分量 | 第56-57页 |
| ·为完善闪络经验公式数据基础而进行的基础性实验研究 | 第57-64页 |
| ·实验目的和意义 | 第57-58页 |
| ·实验装置及测试方法 | 第58-63页 |
| ·实验装置的总体介绍 | 第58-59页 |
| ·脉冲电压源 | 第59-61页 |
| ·真空固体绝缘实验腔 | 第61页 |
| ·脉冲电压测量 | 第61-62页 |
| ·标准45°截锥体绝缘样品 | 第62-63页 |
| ·实验结果 | 第63-64页 |
| ·对标准45°绝缘样品实验数据处理和分析 | 第64-70页 |
| ·对JCM经验公式的拟合 | 第64-65页 |
| ·对统计学经验公式的拟合 | 第65-70页 |
| ·拟合方法举例 | 第65-67页 |
| ·对实际交联聚苯乙烯样品实验数据的分析 | 第67-70页 |
| ·两种闪络经验公式的对比分析 | 第70-71页 |
| ·小结 | 第71-73页 |
| 第四章 基于JCM经验公式的绝缘堆闪络概率分析方法 | 第73-83页 |
| ·概述 | 第73-74页 |
| ·绝缘堆圆周渡越时间 | 第74-75页 |
| ·绝缘堆圆周渡越时间的概念 | 第74页 |
| ·绝缘堆圆周渡越时间的计算方法 | 第74-75页 |
| ·绝缘环间过电压因子 | 第75-78页 |
| ·绝缘环间过电压因子的概念 | 第75-76页 |
| ·绝缘环间过电压因子的计算方法 | 第76-78页 |
| ·忽略圆周渡越时间条件下的绝缘堆闪络概率分析 | 第78-80页 |
| ·考虑圆周渡越时间时对闪络概率计算方法的修正 | 第80-81页 |
| ·该方法的局限性分析 | 第81-83页 |
| ·JCM经验公式本身准确性带来的误差分析 | 第81-82页 |
| ·时间指数 | 第81页 |
| ·面积指数 | 第81页 |
| ·JCM常数γ_(JCM) | 第81-82页 |
| ·没有准确考虑绝缘环间电压分配均压度的影响 | 第82页 |
| ·将两层绝缘环闪络等效于全堆闪络带来的误差 | 第82-83页 |
| 第五章 基于统计学闪络经验公式的绝缘堆闪络概率分析方法 | 第83-95页 |
| ·概述 | 第83-84页 |
| ·绝缘堆全堆闪络概率 F(t) | 第84-92页 |
| ·忽略圆周渡越时间和不均匀均压影响的F(t)表达式 | 第84-86页 |
| ·简化的数值计算方法 | 第86-87页 |
| ·忽略圆周渡越时间条件下考虑不均匀均压对F(t)的影响 | 第87-90页 |
| ·忽略不均匀均压条件下考虑圆周渡越时间对F(t)的影响 | 第90-92页 |
| ·同时考虑圆周渡越时间和不均匀均压对F(t)的影响 | 第92页 |
| ·特定条件下幸存概率S(t)和F≥1(t)的应用 | 第92-93页 |
| ·改善绝缘堆工作性能的可能途径 | 第93页 |
| ·该分析方法在实际应用中的局限性 | 第93-94页 |
| ·在其它类似系统中的应用 | 第94-95页 |
| 第六章 两种计算方法对实际绝缘堆结构的分析和对比 | 第95-115页 |
| ·前言 | 第95页 |
| ·对美国Z装置绝缘堆工作性能的分析 | 第95-106页 |
| ·Z装置绝缘堆的结构和工作环境 | 第95-97页 |
| ·Z装置绝缘堆的圆周渡越时间和过电压因子计算 | 第97-99页 |
| ·圆周渡越时间计算 | 第97-98页 |
| ·过电压因子计算 | 第98-99页 |
| ·Z装置绝缘堆的闪络概率计算 | 第99-105页 |
| ·基于JCM经验公式的全堆闪络概率计算 | 第99-101页 |
| ·基于统计学经验公式的全堆闪络概率计算 | 第101-105页 |
| ·与实际运行数据的比较、分析与讨论 | 第105-106页 |
| ·单路样机小绝缘堆实验 | 第106-114页 |
| ·实验目的和意义 | 第106页 |
| ·实验装置介绍 | 第106-110页 |
| ·装置总体结构 | 第106-107页 |
| ·小绝缘堆设计 | 第107-108页 |
| ·单路样机输出电压波形的电路模拟 | 第108-110页 |
| ·小绝缘堆闪络概率预估 | 第110-113页 |
| ·基于JCM经验公式的全堆闪络概率计算 | 第110-111页 |
| ·基于统计学经验公式的全堆闪络概率计算 | 第111-113页 |
| ·实验进程、实验结果与分析 | 第113-114页 |
| ·小结 | 第114-115页 |
| 第七章 计算方法在PTS装置绝缘堆设计中的应用 | 第115-143页 |
| ·概述 | 第115-116页 |
| ·PTS装置绝缘堆的结构 | 第116-117页 |
| ·基于统计学闪络经验公式的全堆闪络概率分析 | 第117-129页 |
| ·真空段电参数计算 | 第117-119页 |
| ·装置全电路模型的模拟计算 | 第119-121页 |
| ·绝缘堆处电压波形参数提取 | 第121-123页 |
| ·确定经验公式 | 第123页 |
| ·过电压因子的静电场数值模拟计算 | 第123-125页 |
| ·计算考虑不均匀电压分配影响下的g_(j，eff) | 第125-126页 |
| ·利用等效介电常数法计算绝缘堆的圆周渡越时间 | 第126页 |
| ·计算考虑圆周渡越时间影响下的h_(j，eff) | 第126-127页 |
| ·计算PTS装置绝缘堆的全堆闪络概率 | 第127-129页 |
| ·其余各层的闪络概率计算 | 第129-140页 |
| ·PTS装置绝缘堆B层全堆闪络概率 | 第129-133页 |
| ·PTS装置绝缘堆C层全堆闪络概率 | 第133-137页 |
| ·PTS装置绝缘堆D层全堆闪络概率 | 第137-140页 |
| ·关于绝缘环材料选择方面的考虑 | 第140-141页 |
| ·分析与小结 | 第141-143页 |
| 第八章 论文总结 | 第143-145页 |
| ·论文的主要工作和结论 | 第143页 |
| ·论文工作的不足之处以及下一步工作设想 | 第143-145页 |
| 附录 | 第145-149页 |
| 致谢 | 第149-150页 |
| 参考文献 | 第150-164页 |
| 博士在读期间发表的论文 | 第164页 |
