| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第1 章 引言 | 第9-15页 |
| ·中国教育卫星宽带传输网介绍 | 第9-11页 |
| ·卫星数据接收卡介绍 | 第11页 |
| ·IPoD 项目介绍 | 第11-14页 |
| ·IPoD 芯片开发背景 | 第11-12页 |
| ·IPoD 芯片应用背景 | 第12-13页 |
| ·课题背景 | 第13-14页 |
| ·论文的结构安排 | 第14-15页 |
| 第2 章 ASIC 的验证和可测性设计 | 第15-37页 |
| ·ASIC 的验证 | 第15-29页 |
| ·ASIC 验证技术 | 第15-22页 |
| ·ASIC 验证流程 | 第22-26页 |
| ·ASIC 验证方法 | 第26-28页 |
| ·ASIC 验证计划和策略 | 第28-29页 |
| ·ASIC 的可测性设计（Design For Test） | 第29-36页 |
| ·Ad-Hoc 设计技术 | 第29-30页 |
| ·结构化可测试性设计技术 | 第30-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第3 章 IPoD 的验证平台和验证策略 | 第37-55页 |
| ·本章引言 | 第37页 |
| ·IPoD 的功能和结构 | 第37-41页 |
| ·IPoD 的功能 | 第37-40页 |
| ·IPoD 的结构 | 第40-41页 |
| ·IPoD 的验证平台 | 第41-43页 |
| ·IPoD 的验证策略 | 第43-54页 |
| ·C 仿真参考模型 | 第44-47页 |
| ·可重用的验证结构 | 第47-50页 |
| ·灰盒验证 | 第50-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第4 章 IPoD 的可测性设计 | 第55-71页 |
| ·本章引论 | 第55页 |
| ·IPoD 芯片的可测性设计 | 第55-70页 |
| ·功能模式和测试模式选择的实现 | 第55-56页 |
| ·可测性设计相关规则 | 第56-62页 |
| ·可测性设计方案 | 第62-68页 |
| ·PCI core 的测试 | 第68-69页 |
| ·APLL 的测试 | 第69-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第5 章 IPoD 芯片的测试图形生成 | 第71-86页 |
| ·本章引论 | 第71页 |
| ·Fujitsu 的测试图形 | 第71-73页 |
| ·Fujitsu 测试图形的定义 | 第71-72页 |
| ·Fujitsu 测试图形的类型 | 第72页 |
| ·Fujitsu 的测试图形生成 | 第72-73页 |
| ·Fujitsu CMOS 工艺ASIC 的测试步骤 | 第73页 |
| ·IPoD 芯片的测试图形生成 | 第73-84页 |
| ·VCD 文件介绍 | 第74-75页 |
| ·FTDL 文件介绍 | 第75-80页 |
| ·VCD 文件到FTDL 文件的转化流程 | 第80-81页 |
| ·IPoD 的测试图形生成流程 | 第81-83页 |
| ·IPoD 的DC 测试图形、APLL 和PCI core 测试图形的生成 | 第83-84页 |
| ·本章小结 | 第84-86页 |
| 第6 章 结束语 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-89页 |
| 致谢 | 第89页 |
| 声 明 | 第89-90页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第90页 |
