基于蚁群算法的数字电路测试模式生成研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-22页 |
| 1．1 引言 | 第8-10页 |
| 1．2 数字电路测试模式生成 | 第10-15页 |
| 1．3 数字电路测试模式生成的研究现状与趋势 | 第15-20页 |
| 1．4 本文主要研究内容及安排 | 第20-22页 |
| 2 蚁群算法 | 第22-33页 |
| 2．1 引言 | 第22-23页 |
| 2．2 基本原理 | 第23-25页 |
| 2．3 算法模型 | 第25-28页 |
| 2．4 应用 | 第28-30页 |
| 2．5 用于测试生成的可行性分析 | 第30-32页 |
| 2．6 本章小结 | 第32-33页 |
| 3 基于蚁群算法的数字电路测试生成 | 第33-46页 |
| 3．1 算法设计考虑 | 第33-34页 |
| 3．2 基本蚁群算法的改进 | 第34-37页 |
| 3．3 基于蚁群算法的时序电路状态初始化 | 第37-40页 |
| 3．4 基于蚁群算法的故障检测 | 第40-43页 |
| 3．5 实验结果及比较分析 | 第43-45页 |
| 3．6 本章小结 | 第45-46页 |
| 4 基于蚁群算法的测试集优化 | 第46-52页 |
| 4．1 测试集优化 | 第46-47页 |
| 4．2 基本蚁群算法的模型改进 | 第47-49页 |
| 4．3 基于蚁群算法的测试集优化流程 | 第49-50页 |
| 4．4 实验及结果分析 | 第50-51页 |
| 4．5 本章小结 | 第51-52页 |
| 5 全文总结 | 第52-54页 |
| 5．1 全文总结 | 第52-53页 |
| 5．2 展望 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间发表论文目录 | 第60页 |
