| 第一章 信号完整性问题的产生背景 | 第1-24页 |
| ·高速数字系统与信号 | 第6-18页 |
| ·信号的逻辑标准(Signaling Standards and Logic Families) | 第6-8页 |
| ·信号驱动器(Drivers) | 第8-10页 |
| ·信号接收器(Receivers) | 第10-13页 |
| ·信号连接线(Interconnects) | 第13-18页 |
| ·高速数字信号的模拟特性 | 第18-23页 |
| ·振荡、过冲与下冲 | 第19页 |
| ·稳定时间(settling time) | 第19-20页 |
| ·信号的非单调变化(non-monotonic transition) | 第20页 |
| ·IBIS模型 | 第20-23页 |
| ·小结 | 第23-24页 |
| 第二章 信号完整性问题的起因和表现 | 第24-41页 |
| ·传输线(Transmission Lines) | 第24-29页 |
| ·反射(Reflection) | 第29-30页 |
| ·串扰(Crosstalk) | 第30-36页 |
| ·容性串扰(Capacitive Crosstalk) | 第31-33页 |
| ·感性串扰(Inductive Crosstalk) | 第33-35页 |
| ·总串扰(Total Crosstalk) | 第35-36页 |
| ·同步开关噪声(SSN) | 第36-40页 |
| ·SSN的起因 | 第36-37页 |
| ·On-Chip Switching(芯片内跳变) | 第37-38页 |
| ·Off-Chip Switching(芯片外跳变) | 第38-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第三章 信号完整性问题的检测 | 第41-56页 |
| ·检测信号完整性问题所需的条件 | 第42-43页 |
| ·逻辑分析仪 | 第43-46页 |
| ·利用逻辑分析仪观测信号的数字特性 | 第43-44页 |
| ·逻辑分析仪的采样方案 | 第44-46页 |
| ·数字示波器 | 第46-51页 |
| ·利用数字示波器观测信号的模拟特性 | 第46-47页 |
| ·示波器的采样方案 | 第47-49页 |
| ·示波器的带宽 | 第49-51页 |
| ·综合逻辑分析仪和示波器来检测信号完整性问题 | 第51-52页 |
| ·信号完整性问题的检测过程 | 第52-55页 |
| ·初步分析被测系统 | 第52-53页 |
| ·建立测试平台 | 第53-54页 |
| ·观察和分析信号 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第四章 信号完整性问题的解决方法 | 第56-76页 |
| ·利用阻抗匹配与端接方案控制反射 | 第56-61页 |
| ·点对点传输线端接策略 | 第56-60页 |
| ·多负载的端接 | 第60-61页 |
| ·不同工艺器件的端接策略 | 第61页 |
| ·端接的仿真分析 | 第61-64页 |
| ·串扰的仿真分析 | 第64-70页 |
| ·电流流向对串扰的影响 | 第64-65页 |
| ·两线间距P对串扰的影响 | 第65-66页 |
| ·平行长度L对串扰的影响 | 第66-67页 |
| ·干扰源信号频率对串扰的影响 | 第67-68页 |
| ·上升／下降时间对串扰的影响 | 第68页 |
| ·地平面的位置对串扰的影响 | 第68-69页 |
| ·结论 | 第69-70页 |
| ·有关SSN(或地弹) | 第70-71页 |
| ·小结 | 第71-76页 |
| 第五章 信号完整性分析的发展趋势 | 第76-78页 |
| ·回顾与总结 | 第76页 |
| ·信号完整性分析的发展趋势 | 第76-78页 |
| 参考文献: | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
