中文摘要 | 第1-3页 |
英文摘要 | 第3-6页 |
1 绪论 | 第6-9页 |
1.1 本文研究的背景、国内外状况及意义 | 第6-7页 |
1.2 本文的主要研究内容 | 第7-9页 |
2 热释电凝视阵列及其性能分析 | 第9-17页 |
2.1 热释电材料和热释电效应 | 第9-10页 |
2.2 热释电凝视阵列 | 第10-12页 |
2.3 热释电凝视阵列性能分析 | 第12-15页 |
2.4 热释电凝视阵列串音分析 | 第15-16页 |
2.5 小结 | 第16-17页 |
3 调制传递函数与光学像质评价 | 第17-25页 |
3.1 调制传递函数的概念 | 第17-21页 |
3.2 调制传递函数与连续光学器件像质评价 | 第21-22页 |
3.3 凝视成像器件的调制传递函数分析 | 第22-23页 |
3.4 小结 | 第23-25页 |
4 热释电凝视阵列测试技术研究 | 第25-36页 |
4.1 热释电凝视阵列MTF测试技术分析 | 第25-27页 |
4.2 传统方法(最值法、缝扫描法、平均法)的研究 | 第27-31页 |
4.3 微倾斜目标方法的研究 | 第31-33页 |
4.4 基于为倾斜目标法MTF测试系统的总体设计 | 第33-34页 |
4.5 小结 | 第34-36页 |
5 基于机总线的信号采集电路的研究 | 第36-58页 |
5.1 测试系统的硬件电路的总体设计 | 第36-37页 |
5.2 测试系统的处理电路的设计与实现 | 第37-43页 |
5.3 控制逻辑电路的设计与实现 | 第43-51页 |
5.4 测试系统的接口电路的设计与实现 | 第51-57页 |
5.5 小结 | 第57-58页 |
6 测试系统的软件平台 | 第58-61页 |
6.1 图像采集及图像处理 | 第58页 |
6.2 算法及信号分析 | 第58-60页 |
6.3 测试结果分析 | 第60-61页 |
7 结束语 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-64页 |
攻读硕士学位研究生期间发表论文 | 第64-65页 |
致谢 | 第65页 |