放射性核材料的γ特征谱分析与γ自吸收修正的研究
| 第一章 引言 | 第1-10页 |
| §1．1 研究背景 | 第7-9页 |
| 1．1．1 无损分析技术 | 第7-8页 |
| 1．1．2 γ射线自吸收及自吸收修正 | 第8-9页 |
| §1．2 本文研究工作 | 第9-10页 |
| 第二章 γ射线的分析与探测 | 第10-19页 |
| §2．1 γ射线的性质 | 第10-13页 |
| 2．1．1 简述 | 第10页 |
| 2．1．2 γ射线产生机理 | 第10-11页 |
| 2．1．3 γ射线与物质的相互作用 | 第11-12页 |
| 2．1．4 γ射线在物质中的衰减 | 第12-13页 |
| §2．2 γ能谱的探测 | 第13-18页 |
| 2．2．1 γ射线探测器 | 第13-14页 |
| 2．2．2 γ探测器的探测效率 | 第14-15页 |
| 2．2．3 γ射线能谱 | 第15-18页 |
| §2．3 小结 | 第18-19页 |
| 第三章 MC方法与MCNP程序简介 | 第19-24页 |
| §3．1 MC方法与粒子输运 | 第19-21页 |
| 3．1．1 Monte Carlo方法 | 第19-20页 |
| 3．1．2 粒子输运问题的MC模拟 | 第20-21页 |
| §3．2 MCNP程序 | 第21-23页 |
| 3．2．1 概述 | 第21-22页 |
| 3．2．2 MCNP程序的应用 | 第22-23页 |
| §3．3 小结 | 第23-24页 |
| 第四章 γ射线自吸收的计算 | 第24-40页 |
| §4．1 自吸收系数与自吸收修正 | 第24-27页 |
| 4．1．1 自吸收系数 | 第24-25页 |
| 4．1．2 自吸收修正 | 第25-27页 |
| §4．2 几种规则几何形状自吸收系数的理论分析 | 第27-30页 |
| 4．2．1 平板几何的自吸收系数 | 第27-28页 |
| 4．2．2 球几何下的自吸收系数 | 第28-29页 |
| 4．2．3 柱几何在垂直于轴线方向的自吸收系数 | 第29-30页 |
| 4．2．4 标准几何形状自吸收修正的分析 | 第30页 |
| §4．3 规则几何形状自吸收修正的数值模拟计算 | 第30-35页 |
| §4．4 不规则几何形状自吸收修正的数值模拟计算 | 第35-37页 |
| §4．5 实验结果分析 | 第37-39页 |
| §4．6 小结 | 第39-40页 |
| 第五章 γ射线自吸收与组分分析 | 第40-56页 |
| §5．1 均匀样品的多组分分析 | 第40-44页 |
| §5．2 两种同位素不均匀样品组分分析 | 第44-54页 |
| 5．2．1 不均匀样品的自吸收修正 | 第44-45页 |
| 5．2．2 定量分析的理论准备 | 第45-50页 |
| 5．2．3 实验验证 | 第50-54页 |
| §5．3 小结 | 第54-56页 |
| 后记 | 第56-57页 |
| 附录 | 第57-70页 |
| 附录1 γ光子与物质几种主要相互作用的简单介绍 | 第57-61页 |
| 附录2 γ探测器的几种探测效率 | 第61-65页 |
| 附录3 球形均匀样品自吸收系数的计算 | 第65-68页 |
| 附录4 柱形均匀样品自吸收系数的近似表示 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
