| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 相图及相图的测定技术简介 | 第8-25页 |
| ·相图和相图应用 | 第8页 |
| ·相图的测定 | 第8-9页 |
| ·试样的制备 | 第9-11页 |
| ·配料和熔炼 | 第10页 |
| ·合金试样的均匀化处理 | 第10页 |
| ·淬冷技术 | 第10-11页 |
| ·物相分析技术 | 第11-16页 |
| ·X射线衍射法 | 第11-13页 |
| ·衍射仪的基本原理与构造 | 第12页 |
| ·实验条件的选择 | 第12-13页 |
| ·差热分析法(DTA) | 第13-14页 |
| ·金相分析法 | 第14页 |
| ·电子显微分析 | 第14-16页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第14-15页 |
| ·能谱分析(EDAX) | 第15-16页 |
| ·相界的测定 | 第16-17页 |
| ·相消失法 | 第16页 |
| ·点阵常数法 | 第16-17页 |
| ·关于PDF卡片 | 第17-18页 |
| ·粉末衍射图谱的指标化 | 第18-22页 |
| ·比值法 | 第18-19页 |
| ·分析法 | 第19页 |
| ·图解法 | 第19-21页 |
| ·计算机尝试法 | 第21页 |
| ·指标化结果正确性的判据 | 第21-22页 |
| ·晶体点阵常数的精确测量 | 第22-25页 |
| ·内标法 | 第22页 |
| ·图形外推法 | 第22-23页 |
| ·最小二乘法 | 第23-25页 |
| 第二章 Gd-Fe-Ge三元合金相图773K等温截面 | 第25-42页 |
| ·前言 | 第25-26页 |
| ·历史资料 | 第26-31页 |
| ·Gd、Fe、Ge的原子参数 | 第26页 |
| ·Gd-Fe二元体系 | 第26-27页 |
| ·Fe-Ge二元体系 | 第27-29页 |
| ·Gd-Ge二元体系 | 第29-30页 |
| ·已经被报道的Gd-Fe-Ge三元化合物 | 第30-31页 |
| ·实验 | 第31-33页 |
| ·配料以及所用设备 | 第31页 |
| ·实验过程 | 第31-33页 |
| ·结果与讨论 | 第33-39页 |
| ·Gd-Fe-Ge三元合金系 | 第33-37页 |
| ·二元系化合物 | 第37-39页 |
| ·相关体系的比较 | 第39-41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| 参考文献 | 第42-44页 |
| 致谢 | 第44-45页 |
| 攻读硕士期间已发表和待发表的论文 | 第45-46页 |
| 附图: 样品的X射线衍射图谱 | 第46-53页 |