基于90纳米工艺静态存储器的测试方法学
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 简介 | 第8-12页 |
| ·测试的重要性 | 第8-9页 |
| ·测试的经济性 | 第9-10页 |
| ·半导体存储器及其测试 | 第10-11页 |
| ·本文的概括 | 第11-12页 |
| 第二章 存储器的结构 | 第12-30页 |
| ·存储器模型 | 第12-13页 |
| ·单端口存储器 | 第13-20页 |
| ·单端口存储器的功能模型 | 第13-14页 |
| ·单端口存储器的电气模型 | 第14-20页 |
| ·双端口存储器 | 第20-30页 |
| ·双端口存储器的功能模型 | 第21页 |
| ·双端口存储器的电气模型 | 第21-30页 |
| 第三章 存储器的功能失效 | 第30-54页 |
| ·单端口存储器的功能失效 | 第30-38页 |
| ·单端口存储器的阵列失效 | 第31-35页 |
| ·单端口地址解码失效 | 第35-37页 |
| ·读写逻辑的失效 | 第37页 |
| ·连接失效 | 第37-38页 |
| ·双端口存储器的功能失效 | 第38-54页 |
| ·双端口存储单元阵列失效 | 第40-45页 |
| ·双端口存储器地址解码失效 | 第45-52页 |
| ·读写逻辑失效 | 第52-54页 |
| 第四章 存储器的功能测试 | 第54-62页 |
| ·Zero-One 测试 | 第54-55页 |
| ·Checkerboard | 第55页 |
| ·March | 第55-62页 |
| 第五章 基于90 纳米工艺的存储器测试 | 第62-78页 |
| ·J750 测试平台 | 第62-63页 |
| ·基于90 纳米工艺的存储器测试 | 第63-72页 |
| ·功能测试 | 第63-70页 |
| ·数据保持性能测试 | 第70页 |
| ·功耗测试 | 第70-72页 |
| ·成品率数据 | 第72-75页 |
| ·数据分析 | 第75-78页 |
| 第六章 结论和建议 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 其它研究成果 | 第83-84页 |
