二氧化硅胶体探针的制备及其在模拟颗粒物间相互作用力测定中的应用
中文摘要 | 第1-6页 |
英文摘要 | 第6-8页 |
目录 | 第8-11页 |
第一章 绪论 | 第11-13页 |
·问题的提出 | 第11-12页 |
·研究的目标和内容 | 第12-13页 |
第二章 原子力显微镜概述 | 第13-21页 |
·原子力显微镜的发展史 | 第13-14页 |
·原子力显微镜(AFM)工作原理和工作模式 | 第14-19页 |
·AFM的工作原理 | 第14-16页 |
·AFM的工作模式 | 第16-17页 |
·力曲线的测定 | 第17页 |
·AFM的最新检测成像技术 | 第17-19页 |
·AFM的应用概述 | 第19页 |
·与其它常规显微手段的比较 | 第19-21页 |
第三章 文献综述 | 第21-39页 |
·水体中的颗粒物 | 第21-27页 |
·表面电荷与电荷表征 | 第21-23页 |
·颗粒间的范德华引力 | 第23页 |
·双电层理论 | 第23-25页 |
·Derjaguin近似 | 第25-27页 |
·原子力显微镜探针的制备 | 第27-30页 |
·原子力显微镜常规探针的制备 | 第27页 |
·胶体探针的制备技术 | 第27-30页 |
·胶体探针针尖的制备 | 第28-29页 |
·球形针尖颗粒的粘结 | 第29-30页 |
·力曲线的测量 | 第30-39页 |
·力曲线测量概述 | 第30-32页 |
·力距离曲线的转化 | 第32-39页 |
·胶体探针的力-距离曲线转化原理分析 | 第32-35页 |
·力-距离曲线转化过程中参数的确定 | 第35-39页 |
第四章 实验材料与方法 | 第39-47页 |
·二氧化硅颗粒及样品片的表征 | 第39-40页 |
·粒度及形貌表征 | 第39页 |
·比表面的测定 | 第39页 |
·电荷特性 | 第39页 |
·平均粒径的测定 | 第39页 |
·样品片的表征 | 第39-40页 |
·二氧化硅胶体探针的制备 | 第40-42页 |
·实验材料 | 第40-41页 |
·实验方法-双向移动平台法 | 第41页 |
·胶体探针的制作步骤 | 第41-42页 |
·羟基聚合铝絮凝剂的制备及表征 | 第42-43页 |
·制备方法 | 第42页 |
·表征方法 | 第42-43页 |
·力的测量 | 第43-47页 |
·弹性常数的标定 | 第43页 |
·不同离子强度下力的测量 | 第43-45页 |
·对吸附PAC1的胶体探针进行力的测量 | 第45-47页 |
第五章 结果与讨论 | 第47-58页 |
·二氧化硅颗粒及硅晶片的表征结论 | 第47-48页 |
·双向移动平台法制备二氧化硅胶体探针 | 第48-51页 |
·制备的羟基聚合铝絮凝剂 | 第51-53页 |
·测量的力 | 第53-58页 |
·弹性常数的标定 | 第53-54页 |
·不同离子强度条件下力的测量 | 第54-55页 |
·对吸附PAC1的胶体探针的力测量 | 第55-58页 |
第六章 结论 | 第58-60页 |
·二氧化硅、硅晶片的表征结果及羟基聚合铝的制备 | 第58页 |
·二氧化硅胶体探针的制备 | 第58-59页 |
·力曲线的测量和转化 | 第59-60页 |
·弹性常数的标定 | 第59页 |
·力曲线的测量 | 第59页 |
·力曲线的转化 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-68页 |
附录 | 第68-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
攻读学位期间取得的科研成果清单 | 第79页 |