| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-18页 |
| ·关于分子自组装 | 第7-12页 |
| ·自组装膜的制备 | 第7-8页 |
| ·自组装膜的分类 | 第8-9页 |
| ·自组装膜的表征 | 第9-11页 |
| ·自组装技术的应用 | 第11-12页 |
| ·烷基硫醇在金属表面自组装膜的研究进展 | 第12-16页 |
| ·金表面烷基硫醇SAMs | 第12-13页 |
| ·铜表面烷基硫醇SAMs | 第13-15页 |
| ·铁表面烷基硫醇SAMs | 第15页 |
| ·其它金属表面烷基硫醇SAMs | 第15-16页 |
| ·本文的研究目的和意义 | 第16-18页 |
| 第二章 实验方法 | 第18-21页 |
| ·仪器设备和试剂 | 第18页 |
| ·所用仪器设备 | 第18页 |
| ·所用试剂 | 第18页 |
| ·铁电极的制备 | 第18-19页 |
| ·十二烷基硫醇SAMs的制备 | 第19页 |
| ·交流电处理 | 第19页 |
| ·实验方法 | 第19页 |
| ·实验方案 | 第19-21页 |
| ·铁表面正十二烷基硫醇SAMs的自组装 | 第19-20页 |
| ·铁表面叔十二烷基硫醇SAMs的自组装 | 第20-21页 |
| 第三章 正十二烷基硫醇在铁表面的自组装 | 第21-43页 |
| ·铁表面正十二烷基硫醇膜的反射FT-IR表征 | 第21-22页 |
| ·正十二烷基硫醇浓度对自组装膜的影响 | 第22-28页 |
| ·交流阻抗测试结果 | 第22-26页 |
| ·Tafel极化曲线测试结果 | 第26-28页 |
| ·自组装时间对自组装膜的影响 | 第28-32页 |
| ·交流阻抗测试结果 | 第28-30页 |
| ·Tafel极化曲线测试结果 | 第30-32页 |
| ·交流电处理对自组装膜的影响 | 第32-41页 |
| ·交流电电位对自组装膜的影响 | 第33-37页 |
| ·交流阻抗测试结果 | 第33-35页 |
| ·Tafel极化曲线测试结果 | 第35-37页 |
| ·交流电频率对自组装膜的影响 | 第37-41页 |
| ·交流阻抗测试结果 | 第37-40页 |
| ·Tafel极化曲线测试结果 | 第40-41页 |
| ·正十二烷基硫醇在铁表面的自组装机理 | 第41-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 第四章 叔十二烷基硫醇在铁表面的自组装 | 第43-55页 |
| ·铁表面叔十二烷基硫醇膜的反射FT-IR表征 | 第43-44页 |
| ·叔十二烷基硫醇在铁表面上自组装 | 第44-47页 |
| ·交流阻抗测试结果 | 第44-45页 |
| ·Tafel极化曲线测试结果 | 第45-47页 |
| ·正、叔十二烷基硫醇复合自组装膜的制备及其防腐蚀性 | 第47-50页 |
| ·交流阻抗测试结果 | 第47-49页 |
| ·Tafel极化曲线测试结果 | 第49-50页 |
| ·交流电处理对叔十二烷基硫醇SAMs的影响 | 第50-53页 |
| ·交流阻抗测试结果 | 第50-52页 |
| ·Tafel极化曲线测试结果 | 第52-53页 |
| ·叔十二烷基硫醇在铁表面的自组装机理 | 第53-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 攻读硕士期间发表论文情况 | 第62页 |