基于热电偶的爆炸温度场存储测试技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第8页 |
| ·课题研究国内外发展现状 | 第8-13页 |
| ·爆炸温度测试的国内外研究现状 | 第8-10页 |
| ·存储测试技术研究现状 | 第10-11页 |
| ·动态校准及补偿方法研究现状 | 第11-13页 |
| ·本文主要工作 | 第13-15页 |
| 2 测试系统的性能指标探讨 | 第15-18页 |
| ·概述 | 第15页 |
| ·爆炸反应机理 | 第15-16页 |
| ·爆炸温度场测量存在的问题 | 第16页 |
| ·性能指标论证 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 3 存储测试系统总体方案 | 第18-21页 |
| ·概述 | 第18页 |
| ·系统设计原则 | 第18页 |
| ·存储测试系统的组成方案 | 第18-19页 |
| ·各子模块简介 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 4 温度传感器设计及实验研究 | 第21-36页 |
| ·概述 | 第21页 |
| ·传感器的设计与制作 | 第21-25页 |
| ·热电偶的工作原理 | 第21-22页 |
| ·热电偶结构设计 | 第22-25页 |
| ·热电偶的数学模型 | 第25页 |
| ·热电偶动态特性实验研究 | 第25-31页 |
| ·比较校准法原理 | 第26-27页 |
| ·校准实验系统组成 | 第27页 |
| ·比较校准试验 | 第27-28页 |
| ·校准实验数据预处理 | 第28-30页 |
| ·校准实验数据分析 | 第30-31页 |
| ·动态误差补偿探讨及软件实现 | 第31-33页 |
| ·频域修正方法原理 | 第31页 |
| ·动态修正软件实现流程 | 第31-33页 |
| ·温度信号与压力信号的关联特性研究 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 5 存储测试系统功能单元研制 | 第36-57页 |
| ·概述 | 第36页 |
| ·信号调理电路设计 | 第36-39页 |
| ·采样触发与模数转换模块 | 第39-42页 |
| ·触发电路 | 第39-40页 |
| ·A/D模块 | 第40-42页 |
| ·主控制模块 | 第42-43页 |
| ·单片机的外围电路 | 第43-49页 |
| ·系统电源 | 第43-44页 |
| ·外扩存储器电路 | 第44-46页 |
| ·复位电路 | 第46-47页 |
| ·串行通讯接口 | 第47-48页 |
| ·其他电路设计 | 第48-49页 |
| ·热电偶的冷端补偿电路 | 第49-52页 |
| ·冷端补偿方法 | 第49-50页 |
| ·冷端补偿电路设计 | 第50-52页 |
| ·RS485总线 | 第52页 |
| ·存储测试系统的软件设计 | 第52-56页 |
| ·主控制软件设计 | 第53页 |
| ·A/D采集子程序 | 第53-54页 |
| ·冷端温度补偿程序 | 第54-55页 |
| ·上位机软件的编写 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 6 存储测试系统的考核验证 | 第57-65页 |
| ·概述 | 第57页 |
| ·验证方案 | 第57-58页 |
| ·试验流程框图 | 第57-58页 |
| ·试验系统组成 | 第58页 |
| ·PXI数采系统 | 第58-61页 |
| ·硬件组成 | 第58-59页 |
| ·软件编制 | 第59-61页 |
| ·试验验证 | 第61-62页 |
| ·试验结果与分析处理 | 第62-63页 |
| ·不确定度分析 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 7 结束语 | 第65-67页 |
| ·全文小结 | 第65页 |
| ·进一步的工作 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 附录 | 第71-73页 |
